[实用新型]一种脉冲激光二极管的检测系统有效

专利信息
申请号: 201721649308.4 申请日: 2017-11-29
公开(公告)号: CN207487945U 公开(公告)日: 2018-06-12
发明(设计)人: 戴军;徐威;胡攀攀 申请(专利权)人: 武汉万集信息技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 脉冲激光二极管 计时 接收放大模块 激光驱动模块 本实用新型 供电模块 计时模块 检测系统 数据统计 显示模块 衰减片 激光驱动脉冲 电信号转换 发出光信号 激光二极管 衰减光信号 检测结果 接收器件 起始信号 驱动脉冲 实时显示 停止信号 系统供电 性能测试 上传 分析 输出 统计
【说明书】:

实用新型公开一种脉冲激光二极管的检测系统,该系统由激光驱动模块、衰减片、接收放大模块、计时模块、数据统计和显示模块、供电模块组成,所述激光驱动模块驱动脉冲激光二极管发出光信号;所述衰减片衰减光信号;所述接收放大模块进行光‑电信号转换;所述计时模块输出并上传计时时间;所述数据统计和显示模块统计计时时间并分析其一致性,以判断脉冲激光二极管的性能,并将检测结果实时显示;所述供电模块给系统供电。本实用新型在不损坏接收器件的前提下,将激光驱动脉冲信号和接收放大模块接收信号作为计时起始信号和停止信号,进行多次计时,通过分析计时时间的一致性实现对脉冲激光二极管的性能测试,简单易行、成本低廉且可靠性高。

技术领域

本实用新型涉及激光扫描测距技术领域及检测设备领域,尤其涉及一种脉冲激光二极管的检测系统。

背景技术

目前,脉冲激光二极管(PLD,Pulse Laser Diode)广泛应用于激光扫描测距技术领域中,激光二极管自身的性能影响着光脉冲的发光功率和方向性,光脉冲的发光功率小、方向性差,会导致脉冲激光二极管进行脉冲式激光测距时离散度高,测距精度差。

201511028522.3和201511028490.7公开了一种检测激光二极管性能的检测方法,测试种类齐全,但在测试过程中需要手动调整组件以调整激光二极管的位姿,并且装置结构复杂,价格昂贵,操作繁琐,降低了激光二极管的检测效率。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供一种脉冲激光二极管的检测系统,旨在不损坏激光二极管及检测设备的前提下,利用最简单易行的方法,对独立的脉冲激光二极管进行检测,解决上述检测设备及检测方法存在的问题和不足。

为了解决上述问题,本实用新型提供一种脉冲激光二极管的检测系统,包括激光驱动模块、衰减片、接收放大模块、计时模块、数据统计和显示模块、供电模块。

所述激光驱动模块包括升压电路、高压功率检测与调整电路、驱动电路,用来控制脉冲激光二极管发出光脉冲;

所述衰减片用来对脉冲激光进行衰减,以避免光功率过大损坏后级接收光信号组件;

所述接收放大模块的APD组件应与所述衰减片、脉冲激光二极管的出光面保持同轴,用来接收衰减之后的光脉冲信号,并转换成电信号;

所述计时模块产生周期性驱动脉冲信号并通过IPX线发送给所述激光驱动模块用来控制脉冲激光二极管发光,通过所述IPX线接收所述接收放大模块返回的脉冲信号,并进行计时,同时将计时时间通过数据线上传给所述数据统计和显示模块,通过分析多次计时时间的一致性,判断脉冲激光二极管的性能,同时显示检测结果;

所述供电模块用来给各模块供电。

优选地,所述计时模块作为主控功能模块,同时响应所述数据统计和显示模块发送的参数设置命令,并根据参数设置命令控制所述激光驱动模块和接收放大模块的高压调节。

优选地,所述衰减片、接收放大模块的接收组件以及待检测脉冲激光二极管的出光面保持同轴,以减少测试过程中光功率的损耗。

优选地,所述各模块均固定于检测装置上,测试过程中不必调节各模块位置,避免了因系统模块位置的改变而影响计时时间的精度。

本实用新型的有益效果是:本脉冲激光二极管的检测系统根据实际应用中脉冲激光二极管的性能会影响计时时间的精度,进而影响测距精度这一原理,利用脉冲激光二极管的发光来进行计时测试,并根据计时时间的一致性判断脉冲激光二极管的性能。整个检测系统结构简单,成本低廉,且系统各模块固定于检测装置上,测试中无需调节各模块位置,避免人为操作引入误差,操作简单,测试效率高。

附图说明

图1为本实用新型一种脉冲激光二极管的检测系统各模块的结构图;

图2为各脉冲信号对应的时序图;

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