[实用新型]用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置

权利要求书

1.一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，包括：

拨动机构(3)，该拨动机构(3)包括驱动组件(31)及拨动组件(31)，该拨动组件(32)包括与驱动组件(31)传动连接的安装座(321)及安装于安装座(321)上的若干个拨动杆(322)；以及

用于承载待测元器件的载台(4)，

其中，每个拨动杆(322)的正下方均设有载台(4)，拨动杆(322)与载台(4)上的待测元器件选择性配接，驱动组件(31)可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆(322)与载台(4)上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆(322)在驱动组件(31)的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台(4)上的待测元器件。

2.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，驱动组件(31)包括：

支座(311)；以及

设于支座(311)上的驱动电机(313)与滑动导轨(312)，

其中，滑动导轨(312)上滑动配接有滑动座(314)，驱动电机(313)的动力输出端与滑动座(314)相连接，滑动座(314)的旁侧设有用于感应滑动座(314)滑行位置的前位置传感器(317)与后位置传感器(318)。

3.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，安装座(321)沿Y轴方向延伸，所述X轴与Y轴在同一水平面上且相互垂直。

4.如权利要求3所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，安装座(321)上嵌设有安装板(328)，安装板(328)的延伸方向与安装座(321)的延伸方向相一致。

5.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，载台(4)包括：

基座(41)，该基座(41)上设有向上凸起的连接部(411)及用于放置待测元器件的载物台(412)；以及

根部与连接部(411)相铰接的盖板(42)，盖板(42)上开设有贯穿其上下表面的让位孔(422)，

其中，盖板(42)可绕连接部(411)在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台(412)上的待测元器件选择性地压紧，当盖板(42)将放置于载物台(412)上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔(422)。

6.如权利要求5所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，载物台(412)上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽(4122)，容纳槽(4122)的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，所述检测通孔中嵌设有探针(44)，容纳槽(4122)上覆盖有密封组件(45)，该密封组件(45)包括：

密封板(451)；以及

设于密封板(451)与载物台(412)之间的顶部密封圈(452)，

其中，密封板(451)中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔(454)，顶部密封圈(452)环绕地设置于容纳槽(4122)的外周，密封通孔(454)分别与让位孔(422)及容纳槽(4122)相互连通。

7.如权利要求6所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，密封通孔(454)的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈(453)，密封板(451)、顶部密封圈(452)及缓冲圈(453)三者全部一体式地结合成统一整体。

8.如权利要求5所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，基座(41)的旁侧还设有用于将盖板(42)选择性压紧的压紧组件(43)，该压紧组件(43)与盖板(42)的端部相对设置。