[实用新型]辐射图像校正系统有效

专利信息
申请号: 201721572276.2 申请日: 2017-11-22
公开(公告)号: CN207601853U 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 涂俊杰;刘必成;徐强;李荐民;王永明;李玉兰;宗春光;李元景;马媛;陈志强;于昊;张丽;喻卫丰;许艳伟 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T3/40
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 许蓓
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 辐射图像 激光扫描仪 校正系统 本实用新型 成像装置 传感设备 辐射成像 辐射装置 图像校正 校正装置 实时性 校正 监测
【说明书】:

本实用新型公开了一种辐射图像校正系统,涉及辐射成像领域。该系统包括:激光扫描仪,辐射装置,成像装置,以及辐射图像校正装置。本公开利用激光扫描仪作为图像校正的传感设备,监测精度比较高,能够提高辐射图像校正的实时性。

技术领域

本公开涉及辐射成像领域,特别涉及一种辐射图像校正系统。

背景技术

发明人了解到的辐射图像校正的相关技术包括:在检测通道内安装多组光幕或光电传感器,利用相邻的两组传感器对被检对象进行区间测速,然后利用该区间测速结果对被检对象的辐射图像进行校正。

实用新型内容

发明人发现,前述提及的相关技术速度测量精度低,造成辐射图像校正的实时性较差。例如,如果被检对象的运动速度在当前区间发生改变,依据前一区间的测速结果校正后的辐射图像仍然会有较大的畸变。

本公开实施例要解决的一个技术问题是:提高被检对象运动状态的监测精度,改善辐射图像校正的实时性。

根据本公开的一个方面,提出一种辐射图像校正系统,包括:

激光扫描仪,

辐射装置,

成像装置,

以及

辐射图像校正装置;

其中,所述激光扫描仪被配置为发射激光对被检对象进行扫描,将扫描数据传输给所述辐射图像校正装置;所述辐射装置被配置为向被检对象发射辐射射线束,并将检测到的透过被检对象的辐射射线信号传输给所述成像装置;所述成像装置被配置为根据所述辐射装置检测到的辐射射线信号进行成像;所述辐射图像校正装置与所述辐射装置电连接,并被配置为将基于扫描数据确定的改变扫描频率类型的校正数据传输给所述辐射装置,使所述辐射装置改变对被检对象的扫描频率,或者,所述辐射图像校正装置与所述成像装置电连接,并被配置为在基于扫描数据确定的运动状态符合预设条件的情况下,对所述成像装置所形成的辐射图像进行插值或抽列的校正处理。

其中,所述辐射装置为X射线辐射装置。

其中,所述辐射装置包括:射线源,被配置为发射辐射射线束;以及,探测器,被配置为检测透过被检对象的辐射射线。

其中,所述激光扫描仪位于检测通道的顶部或侧上方。

本公开利用激光扫描仪作为图像校正的传感设备,被检对象运动状态的监测精度比较高,能够提高辐射图像校正的实时性。

附图说明

下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。根据下面参照附图的详细描述,可以更加清楚地理解本公开,

显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开辐射图像校正系统一个实施例的结构示意图。

图2为本公开的激光束示意图。

图3为本公开激光扫描仪的监测区域的示意图。

图4为本公开被检对象定位方法的示意图。

图5为本公开辐射图像校正方法一个实施例的流程示意图。

图6为本公开辐射图像校正方法再一个实施例的流程示意图。

图7为本公开辐射图像校正方法另一个实施例的流程示意图。

图8为本公开辐射图像校正装置一个实施例的结构示意图。

图9为本公开辐射图像校正装置另一个实施例的结构示意图。

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