[实用新型]一种基于USB-PD协议老化测试装置

说明书

本实用新型公开了一种基于USB‑PD协议老化测试装置，所述装置包括有装置输入模块、主控芯片、按键模块、显示模块、负载老化模块及电压采样模块；其中，装置输入模块与需老化测试的USB‑PD适配器、车充、移动电源等电源设备连接，所述主控芯片与装置输入模块、按键模块，显示模块，负载老化模块，电压采样模块连接。本实用新型可根据客户需求任意设定在额定电压及功率范围内的参数进行老化测试，满足市场对USB‑PD电源产品的需求，为各厂商的USB‑PD的电源产品的安全可靠性提供保障。

技术领域

本实用新型属于电源产品技术领域，特别涉及一种基于USB-PD协议的电源老化测试装置。

背景技术

为了规范快充标准，加速快充技术的商用与发展，2017年初，USB-IF(USB标准化组织)在原有USB PD2.0/3.0的基础上，通过与高通、泰尔实验室及国内主流手机厂商多方沟通，正式发布了USB PD3.0协议V1.1重要更新，旨在一统快速充电技术规范的PPS(Programmable Power Supply)由此问世，同时规范了新版本的USB接口将不允许通过非USB-PD协议来进行电压调整。此外，谷歌亦在Android7.0OEM规范中强调，快充技术必须支持USB-PD协议。这两个新规范的出现，加快推动了USB-PD的普及。

而手机、平板、电脑等电子设备厂商都纷纷推出了多款支持USB-PD的产品，围绕手机、平板、电脑的配件厂商也在加快脚步的推出支持USB-PD协议的相关配件。USB-PD的电源产品需求越来越大，但市面上却一直没有针对USB-PD协议电源产品老化测试的设备，因此，迫切需要USB-PD电源产品的老化测试设备，以保证USB-PD电源产品的质量。

发明内容

为解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种基于USB-PD协议老化测试装置，该装置适用于给市面上的USB-PD电源产品进行老化测试，为USB-PD的电源产品的安全可靠性提供保障。

本实用新型的另一个目的在于提供一种基于USB-PD协议老化测试装置，该装置能够对USB-PD电源产品的额定范围内的任意电压及功率进行定时老化测试，且实现简便、成本低廉。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下。

一种基于USB-PD协议老化测试装置，其特征在于所述装置包括有装置输入模块、主控芯片、按键模块、显示模块、负载老化模块及电压采样模块；其中，装置输入模块与需老化测试的USB-PD适配器、车充、移动电源等电源设备连接，所述主控芯片与装置输入模块、按键模块，显示模块，负载老化模块，电压采样模块连接。

进一步，所述装置输入模块为TYPE-C接口母座，通过TYPE-C双公头线与需老化测试的USB-PD适配器、车充、移动电源等电源设备连接。

进一步，所述装置还包括有LDO供电模块，所述LDO供电模块连接于主控芯片。

更进一步，所述LDO供电模块3选用3.3V输出的LDO。

所述主控芯片选用集成TYPE-C接口Rp、Rd物理层以及PD协议PHY层、死电池功能的主控芯片，通过CC1和CC2与装置输入模块2相连，需与USB-PD电源产品进行PD协议通信。

所述按键模块与主控芯片相连，通过主控芯片检查按键动作，从而设置不同的老化参数。

所述显示模块与主控芯片相连，通过主控芯片控制显示模块显示老化参数信息，用户可直观的了解USB-PD电源产品的老化状况。显示方式可通过LED、OLED屏、LCD屏、数码管或电脑显示器的形式。

所述负载老化模块与主控芯片相连，主控芯片可根据用户需求控制负载老化模块设置不同的老化参数，如负载电流变化，老化时间等。

所述电压采样模块与主控芯片相连。主要用于主控芯片采集当前输入的电源电压用。