[实用新型]一种手机SIM卡座测试治具

说明书

本实用新型公开了一种手机SIM卡座测试治具，将手机SIM卡座测试治具的所有SIM卡置放槽4放满SIM卡，使SIM卡金属面朝下，如果SIM卡数量不足，需要用替代的压板置于SIM卡置放槽4槽内，打开抽气泵、SIM卡测试装置，使测试治具内的空气被抽出，SIM卡被吸紧，且其上的金属触点与对应的金属触头连接，测试板8上的LED阵列9如果全部亮灯，说明SIM卡全部是良品，如果有某个LED灯不亮，说明对应原SIM卡是不良品，需要剔除。本实用新型极大的提高了SIM卡测试的效率，而且测试的准确率也相应的提高。

技术领域

本实用新型涉及治具，具体的说是涉及一种手机SIM卡座测试治具。

背景技术

现行的SIM卡座测试采用工装，通过安装定位针进行测试，工装测试的治具包括外框、上模针板、下模针板和下模护板，测试时，将SIM卡座放到下模护板上，将SIM卡座对准下模针板，然后将上模针板压下，通过PFC多功能测试仪对SIM卡座的导通、绝缘等性能进行测试。

现有的SIM卡座测试方法存在着定位不准，效率较慢的缺点。

实用新型内容

针对现有技术中的不足，本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种手机SIM卡座测试治具。

为解决上述技术问题，本实用新型通过以下方案来实现：一种手机SIM卡座测试治具，该测试治具包括治具底板、胶垫、治具盖板、若干抽气连接头，所述治具底板上端面设有阵列式孤岛，该孤岛之间、孤岛与治具底板板体边缘的延伸块之间形成SIM卡形状的槽体，各孤岛周边形成连通的腔体，在所述治具底板的一侧面设置有若干接气孔，所述接气孔上连接有抽气连接头；

所述孤岛及延伸块上设置有螺丝孔；

所述胶垫设置有与所述SIM卡形状的槽体配合的SIM卡孔体阵列，并在胶垫上设置有与所述螺丝孔对应的圆孔；

所述治具盖板设置有与所述SIM卡孔体阵列对应的SIM卡置放槽，所述SIM卡置放槽底面设置有抽气孔、置于所述抽气孔两侧的金属触头，所述金属触头的数量与SIM卡上的金属连接点数量匹配，所述治具盖板底面设置有电路板，电路板上的电路与各金属触头连接，电路板通过电路与测试治具外部的测试板连接；

所述治具盖板上设置有螺丝孔；

所述胶垫置于所述治具底板上，治具盖板压于胶垫上，并通过螺丝与治具底板固定，固定后，在组装体内部形成相通的腔室。

进一步的，所述抽气孔朝向SIM卡置放槽的方向上的孔口边缘设置有一凸起的圆形胶圈。

进一步的，所述金属触头包括金属头、弹簧，所述金属头外壁设置有一圈凸圈，凸圈以下的金属头柱部套上弹簧。

进一步的，所述测试板上设置有与测试治具上的SIM卡置放槽位置对应的LED阵列。

相对于现有技术，本实用新型的有益效果是：本实用新型公开了一种手机SIM卡座测试治具，该测试治具采用抽气的方式将SIM卡吸紧于治具槽体内，并在槽体内设置有金属触头，金属触头将各SIM卡的电路导至外部的测试装置，SIM卡被吸附时，会向下运动，被吸紧后，SIM卡的金属触点会下压金属触头，使上下金属紧紧连接在一起，不容易脱落。本实用新手机SIM卡座测试治具测试效率高，接触良好，很少出现接触不良现象。

附图说明

图1为本实用新型测试治具与抽气连接头连接结构示意图；

图2为本实用新型测试治具爆炸图；

图3为本实用新型金属触头结构示意图；

图4为本实用新型抽气孔孔口处的圆形胶圈示意图；

图5为本实用新型金属触头与测试装置电路连接示意图。

具体实施方式