[实用新型]天线柱面近场测量系统

说明书

本实用新型公开了一种天线柱面近场测量系统，包括：承载待测天线并驱使所述待测天线绕一轴线转动的转动装置、测量装置以及控制系统，所述测量装置包括：满足所述待测天线的柱面近场测量范围要求的探头组，所述探头组包括：若干沿平行于所述轴线方向布设的探头；以及，控制所述探头组中部分所述探头依次逐步开启工作以实现该部分所述探头进行转动到指定位置的所述待测天线对应位置测量的电子开关，所述控制系统分别与所述转动装置、所述测量装置相连以控制所述转动装置及所述测量装置工作进行所述待测天线的柱面近场测量。通过增加探头的数量，并增加切换速度较快的电子开关以快速控制探头开启，达到提高测量效率的目的。

技术领域

本实用新型涉及天线测试技术领域，特别涉及一种天线柱面近场测量系统。

背景技术

天线特性参数的测量有多种方法，目前主要的方法包括三大类：天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量；其中，天线近场测量主要分为三个大类：平面近场、柱面近场和球面近场。

现有的天线柱面近场测量系统中均采用单探头结构进行测量，其测量过程为：将待测天线置于可绕一轴线转动的转台上，上述单探头平行于轴线的路径上往复移动，并且在单次单向移动过程中，单探头对待测天线进行扫描；使转台和待测天线转动一定角度后，该位置扫描完成后，单探头继续移动到下一位置，重复上述扫描过程，从而完成柱面扫描以得到相应的采样数据；根据采样数据即可通过计算机分析得到检测结果，实现天线柱面近场测量的目的。

但是，上述天线柱面近场测量系统的测量过程需要结合以下两个动作才能完成，动作一：上述探头沿平行于上述轴线的路径间隔性移动，动作二：转台绕上述轴线转动。由于单探头测试技术需要两个机构动作配合才能完成整个柱面近场测量。这样，不仅需要增加能实现探头运动的机构等，导致结构复杂，而且单探头需要在测量所指定的不同位置之间移动或停留，测试连贯性不好，整体测试效率不高。

实用新型内容

本实用新型实施例的目的是提供一种天线柱面近场测量系统，具有结构简单、测试效率较高的优点。

本实用新型第一方面提供一种天线柱面近场测量系统，包括：承载待测天线并驱使所述待测天线绕一轴线转动的转动装置、测量装置以及控制系统，所述测量装置包括：满足所述待测天线的柱面近场测量范围要求的探头组，所述探头组包括：若干沿平行于所述轴线方向布设的探头；以及，控制所述探头组中部分所述探头沿预设直线方向逐步开启工作以实现该部分所述探头进行转动到指定位置的所述待测天线对应位置测量的电子开关，所述控制系统分别与所述转动装置、所述测量装置相连以控制所述转动装置及所述测量装置工作进行所述待测天线的柱面近场测量。

实现上述方案的天线柱面近场测量系统，其测量过程为：将待测天线固定于转动装置上，电子开关控制探头逐个快速开启，由于多个探头沿平行于转轴方向布设，进而可以得到待测天线一条直线上的多个采样数据，转动装置带动待测天线转动一定角度，进而电子开关再次控制探头逐个快速开启，以得到待测天线另一条直线上的多个采样数据，如此反复测得柱面采样数据即可实现对待测天线进行柱面近场测量的目的，上述预设直线方向即为多个探头布设的方向。上述测量过程与常见测量系统的测量过程相比，通过增加探头的数量，并增加电子开关以快速控制探头开启，从而测得直线采样数据，替代了原有需要单探头需要在测量所指定的不同位置之间移动或停留的测量方式，测试连贯性更好，同时减少了控制原有单探头移动或停留的机构，使其结构简单、控制过程简单，从而大大提高了测量效率。

结合第一方面，在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述转动装置包括：与所述探头对立布置的、供所述待测天线固定的、绕所述轴线自由转动的转台，以及，受所述控制系统控制的、驱使所述转台绕所述轴线转动的驱动机构。

实现上述方案的天线柱面近场测量系统，驱动机构受控制系统控制而动作，从而产生作用力于转台上，以驱使转台绕上述转轴转动，在待测天线固定于转台的情况下，即可实现待测天线的稳定转动，以提高该系统的测量精度。