[实用新型]一种应用于固态硬盘可靠性测试的大型高温测试设备有效

专利信息
申请号: 201721456171.0 申请日: 2017-11-04
公开(公告)号: CN207441246U 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 倪黄忠 申请(专利权)人: 深圳市时创意电子有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G05D23/19
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高温测试 设备外壳 本实用新型 可靠性测试 固态硬盘 老化室 推车式 供电系统 超温保护系统 最大限度减少 风循环系统 产品测试 单独控制 独立电源 节能环保 温控系统 高温室 老化架 万向轮 关机 耗电 产能 架体 壳体 推拉 加热 应用 开机 节约
【说明书】:

实用新型公开了一种应用于固态硬盘可靠性测试的大型高温测试设备,该大型高温测试设备包括设备外壳,所述设备外壳设有多个独立的老化室,在每个设备外壳的壳体上设置有风循环系统、温控系统、超温保护系统、产品供电系统;本实用新型节能环保,每个高温室可独立电源控制,可单独控制每个老化室的合理使用,最大限度减少设备频繁关机开机加热降温等动作,与同等产能的其它设备对比,至少节约40%的耗电。产品测试架采用推车式老化架,推车式设计,架体底部安装有万向轮,使用时轻松推拉。

技术领域

本实用新型涉及高温老化设备,具体的说是涉及一种应用于固态硬盘可靠性测试的大型高温测试设备。

背景技术

众所周知,高温老化房是针对高性能电子产品仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备,是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程,该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

传统的老化设备有几下缺点:

1.设备保温性能差,传统的老化设备与架体的电路设置不合理,当产品出现老化不合格时,需要不定时的将门体打开,使老化室温度散失严重;

2.传统的老化室温度控制性能差,没有风循环系统,其发热丝发出的温度直接作用于老化室内,使老化室温度不均衡,容易导致产品出现损坏。

3.发热丝控制不合理,传统的老化室发热丝也是感温控制,温度过高,停止加热,温度过低,继续通电加热,传统的电路连接方式是统一连接,发热丝是统一打开或统一关闭,这样会造成发热丝工作不稳定,而且热量不好控制;

4.传统的产品测试架也不合理,传统的测试架连接电源为整体连接,整个架体的测试板同时工作或关闭,有不合格的产品需要及时剔除,这样造成如缺点1中所描述的热量散失,而且测试板充电、断电,使整个电路不稳定。

5.传统设备的电源连接是一体式连接,产品供电系统是整体式供电,如果某些架层不用时,也是同样在供电状态,因此,对于测试板造成严重的损耗。

实用新型内容

针对现有技术中的不足,本实用新型要解决的技术问题在于提供了一种应用于固态硬盘可靠性测试的大型高温测试设备。

为解决上述技术问题,本实用新型通过以下方案来实现:一种应用于固态硬盘可靠性测试的大型高温测试设备,该大型高温测试设备包括设备外壳,所述设备外壳设有多个独立的老化室,在每个设备外壳的壳体上设置有风循环系统、温控系统、超温保护系统、产品供电系统;

所述设备外壳壳体内设置有隔热层,隔热层内侧板体与老化室内腔之间设置有风道板,风道板与隔热层内侧板体之间形成风道,所述风道从侧面向上与顶部横向间隙连通,顶部风道板上设置有两组风机装置,所述风机装置包括风机扇叶、马达,所述马达与风机扇叶通过驱动杆连接,所述马达设于设备外壳的顶部,所述风机扇叶设于顶部风道板与顶部隔热层之间,其抽风口与老化室连通;

所述风机装置的旁侧设置有排气口和进气口,所述排气口与风道连通,所述进气口通过管体与老化室腔体连通;

置于老化室侧部的风道板上设置有风孔阵列,该风孔阵列从下往上孔径逐渐减小;

侧部隔热层壁面设置有发热丝;

所述老化室顶部至少设置有一个温控探头,两个温控探头分别连接第一微电脑智能温控器和第二微电脑智能温控器,所述第一微电脑智能温控器和第二微电脑智能温控器的电源线连接三相电箱,所述三相电箱设置有分线端子,分线端子的出线端连接风机装置;所述第一微电脑智能温控器和第二微电脑智能温控器的输出端连接智能开关,所述智能开关通过多组正负端子连接发热丝;

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