[实用新型]一种MCU上电检测电路

说明书

本实用新型涉及电能表技术领域，尤其涉及一种MCU上电检测电路，它包括第一电阻R117、第二电阻R119、电容C23以及限压二极管VD6，所述第一电阻R117一端、第二电阻R119一端、电容C23一端以及限压二极管VD6的正极均与MCU连接，所述第一电阻R117的另一端与外部电源连接，所述第二电阻R119的另一端接地，所述电容C23的另一端接地，所述限压二极管VD6的负极与内部电源连接。这种MCU上电检测电路成本较低、电路简单且隐患较低。

技术领域

本实用新型涉及电能表技术领域，尤其涉及一种MCU上电检测电路。

背景技术

单片机系统对于电源处理特别是上电和掉电时刻的准确判断对于整体系统可靠性至关重要，目前针对MCU的上电检测电路多使用专用检测芯片，如MCP111等。当前端电压上升，芯片输入电压达到一定电压时，芯片输出高电平传递给MCU，反之则输出低电平给MCU，如图1所示，但是这种检测电路需要专用的检测芯片，所以成本较高，而且电路比较复杂；还有一种是检测电路是基于MCU本身的比较器来进行检测，但是这种电路由于检测部分电源通常会随着输入电压的增大而增大，所以存在超过系统电源（即输入端的电压高于系统电压）的风险，即存在损坏烧坏MCU的隐患。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种成本较低、电路简单且隐患较低的MCU上电检测电路。

本实用新型所采用的技术方案是：一种MCU上电检测电路，它包括第一电阻R117、第二电阻R119、电容C23以及限压二极管VD6，所述第一电阻R117一端、第二电阻R119一端、电容C23一端以及限压二极管VD6的正极均与MCU连接，所述第一电阻R117的另一端与外部电源连接，所述第二电阻R119的另一端接地，所述电容C23的另一端接地，所述限压二极管VD6的负极与内部电源连接。

所述限压二极管VD6由两个二极管并联组成。

所述第一电阻R117为82kΩ，第二电阻R119为15kΩ，电容C23为100nF。

采用以上结构与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：采用这种上电检测电路不需要使用专用的检测芯片，只需要利用MCU自带的比较器判断是否上电，并且还设置了限压二极管，这样当外部电源电压升高时，MCU的不会超限，进而使得隐患较低。

并且设置通过两个并联的二极管来实现限压，这样限压效果较好，更加不容易出现隐患。

附图说明

图1为现有技术上电检测电路的电路原理图。

图2为本实用新型一种MCU上电检测电路的电路原理图。

具体实施方式

以下结合附图与具体实施方式对本实用新型做进一步描述，但是本实用新型不仅限于以下具体实施方式。

一种MCU上电检测电路，它包括第一电阻R117、第二电阻R119、电容C23以及限压二极管VD6，所述第一电阻R117一端、第二电阻R119一端、电容C23一端以及限压二极管VD6的正极均与MCU连接，所述第一电阻R117的另一端与外部电源连接，所述第二电阻R119的另一端接地，所述电容C23的另一端接地，所述限压二极管VD6的负极与内部电源连接。

所述限压二极管VD6由两个二极管并联组成。

所述第一电阻R117为82kΩ，第二电阻R119为15kΩ，电容C23为100nF。

CHK_POW为VHH通过R117和R119分压而来，CHK_POW利用MCU自带的比较器，判断是否上电，VD6起到限制电压作用，当VHH升高时候，CHK_POW的电压限制在VDD+VD6二极管压降范围内。