[实用新型]一种扫描架上的探头支架组件有效
申请号: | 201721435132.2 | 申请日: | 2017-11-01 |
公开(公告)号: | CN208043946U | 公开(公告)日: | 2018-11-02 |
发明(设计)人: | 葛鲁宁;周建华;毛小莲;雷强 | 申请(专利权)人: | 上海莱天通信技术有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10;G01R1/04 |
代理公司: | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人: | 殷晓雪 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 扫描架 探头支架 组件接口 安装孔 支架 固定安装位置 固定连接位置 元件发生故障 制造成本 出错 申请 混淆 替换 装配 | ||
本申请公开了一种扫描架上的探头支架组件,包括扫描架组件接口、支架;所述扫描架组件接口上在与各种形状、各种大小的支架的所有固定连接位置均设有第二安装孔。进一步地,所述扫描架组件接口上在与各种形状、各种大小的扫描架的所有固定安装位置均设有第一安装孔。本申请提高了探头支架组件中扫描架组件接口的通用性,便于正确装配探头支架组件,不会发生混淆出错,也便于该元件发生故障时直接替换,还减少了该元件的设计与制造成本。
技术领域
本申请涉及一种用于天线测量的扫描架,特别是涉及扫描架上的探头支架组件。
背景技术
天线特性参数的测量技术主要包括三大类:天线的远场测量、天线的紧缩场测量、天线的近场测量。其中,天线的近场测量技术由于不受外界环境的影响,具有测量精度高、安全保密等优点,近年来得到日益广泛的应用。简单地说,天线的近场测量技术是利用探头在天线口面上做扫描运动,测量口面上的幅度与相位等参数作为近场数据,然后把近场数据转换成远场数据。
天线的近场测量技术又分为多种,例如场源分布法、近场扫描法、缩距法、聚焦法和外推法等。其中,天线的近场扫描法是用一个特性已知的探头,在离开待测天线几个波长的某一表面进行扫描,测量天线在该表面离散点上的幅度和相位分布,然后应用严格的模式展开理论确定天线的远场特性。扫描面通常是平面、柱面或球面,相应的近场扫描法称为平面、柱面或球面近场测量。
2001年z1期《无线电工程》(即2001年《无线电工程》增刊)公开了一篇文章《天线平面近场测量扫描架的位移控制》,在第2部分《扫描架的结构和工作原理》公开了一种平面近场扫描架。该扫描架包含用于安装探头的探头支架。在柱面、球面或任意近场扫描架中,都必然包含用于安装探头的探头支架。
请参阅图1,这是一种现有的探头支架的方框示意图。所述探头支架2包括扫描架组件接口21、支架22和探头法兰接口23,其中扫描架组件接口21用来使探头支架2固定安装在扫描架1上,支架22用来固定连接扫描架组件接口21和探头法兰接口22,探头法兰接口23用来使探头3固定安装在探头支架2上。因此探头支架2的作用是使探头3固定安装在扫描架1上。采用任意近场扫描架对天线进行测量时,通常会用到各种频段的探头,各种频段的探头的形状、大小往往不同,扫描架因此需要更换各种各样的探头支架。现有的探头支架2与探头3相对应,每一种形状、大小的探头3都具有相应形状、大小的扫描架组件接口21、支架22和探头法兰接口23,这使得探头支架2在组装时各部分元件容易混淆出错,探头支架2的各部分元件由于形状、大小各不相同而需要单独设计与制造因而成本较高,一旦出现故障也难以替换,使得天线测量的工作效率较低。
发明内容
本申请所要解决的技术问题是提供一种扫描架上的探头支架组件,能够提高组装准确性和效率。
为解决上述技术问题,本申请提供的扫描架上的探头支架组件包括扫描架组件接口、支架;所述扫描架组件接口上在与各种形状、各种大小的支架的所有固定连接位置均设有第二安装孔。通过螺丝等紧固件可将各支架的第一端连接到扫描架组件接口上的部分或全部的第二安装孔,以实现支架与扫描件组件接口的固定连接。针对不同形状、不同大小的探头,现有的探头支架也需要不同形状、不同大小的扫描架组件接口,本申请的探头支架组件则仅需一种形状和大小的扫描架组件接口。这样便提高了扫描架组件接口的通用性,便于提高探头支架组件的组装准确性,也便于扫描架组件接口发生故障时直接替换,还减少了扫描件组件接口的设计与制造成本。
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