[实用新型]样本试剂盘及试剂库

权利要求书

1.样本试剂盘，包括放置架，所述放置架包括底壁，所述底壁的上表面设有呈均匀放射状分布且用于与试剂瓶插接的若干槽格，其特征在于：所述样本试剂盘还包括与所述放置架螺纹连接的若干试管夹，所述试管夹包括容纳和夹持试管的夹体。

2.如权利要求1所述的样本试剂盘，其特征在于：所述试管夹包括与所述夹体相连的支撑体，所述支撑体的底部设有第一连接结构，所述底壁上设有用于定位所述第一连接结构并呈环形分布的若干定位结构，所述第一连接结构包括至少一个插柱，所述定位结构包括至少一个用于供所述插柱插入定位的插孔。

3.如权利要求2所述的样本试剂盘，其特征在于：还包括若干螺纹旋紧件；所述支撑体上设有供所述螺纹旋紧件穿过的过孔，所述定位结构还包括与所述螺纹旋紧件螺纹连接的第一螺纹孔。

4.如权利要求2或3所述的样本试剂盘，其特征在于：所述支撑体为设有中空部的框架结构，所述夹体设于所述中空部中的上部，所述中空部的下部设有用于辅助支撑试管的试管支撑部。

5.如权利要求2或3所述的样本试剂盘，其特征在于：所述放置架为还包括环形侧壁的筒体结构，所述底壁的上表面设有围绕所述放置架的中心轴呈放射状分布的若干槽板，相邻的所述槽板之间形成所述槽格，各所述槽板的沿所述放置架径向的外端面与所述环形侧壁的内周面之间形成可容纳至少一圈所述试管夹的周向通道。

6.如权利要求5所述的样本试剂盘，其特征在于：所述底壁上设有围绕所述放置架的中心轴呈环形均布的内外两圈的若干所述定位结构，内圈的所述定位结构均位于所述槽格内，外圈的所述定位结构均位于所述周向通道内，内圈的所述定位结构的数量等于所述外圈的定位结构的数量，且内圈的所述定位结构与外圈的所述定位结构呈错位排布。

7.试剂库，其特征在于：包括如权利要求1-6中任一项所述的样本试剂盘、驱动所述样本试剂盘旋转的转动装置、机座和用于冷却试管及试剂瓶的半导体制冷装置，所述机座包括机座架体和设于所述机座架体顶部且用于容纳所述样本试剂盘的试剂盘盘体，所述转动装置与所述机座架体相连，所述半导体制冷装置包括半导体制冷片和散热组件，所述半导体制冷片的冷面与所述试剂盘盘体的底面紧贴，所述半导体制冷片的热面与所述散热组件贴合，所述散热组件与所述试剂盘盘体相连。

8.如权利要求7所述的试剂库，其特征在于：所述放置架的中心设有向上凸起的用于使所述转动装置与所述槽格隔离的空心凸体，所述空心凸体内设有由所述转动装置驱动的扇叶结构。

9.如权利要求8所述的试剂库，其特征在于：所述放置架还包括用于提携的把手，所述把手与所述空心凸体转动连接。

10.如权利要求8所述的试剂库，其特征在于：所述试剂盘盘体的底面上靠近所述扇叶结构的一侧设有若干用于均匀扩散空气的环形槽。