[实用新型]一种晶圆烘烤系统有效
| 申请号: | 201721399340.1 | 申请日: | 2017-10-27 |
| 公开(公告)号: | CN207367933U | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
| 发明(设计)人: | 张怀宣 | 申请(专利权)人: | 上海众鸿电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
| 地址: | 201315 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 烘烤 系统 | ||
本实用新型公开了一种晶圆烘烤系统,包括:机台,加热装置,若干热板,设置在所述机台上,所述加热装置为所述热板加热,若干温度传感器,布设在每个所述热板上测温,每个热板上至少设置一个温度传感器;减法器,获取所述温度传感器测得的每两个热板的温度差;以及控制装置,根据所述减法器获得的温度差,调节所述加热装置为热板加热,以使所述热板之间的温度差不超过第一设定值。报警器,所述报警器与所述减法器通讯连接;当所述减法器获得的温度差大于第二设定值时,所述报警器报警。基于热板之间的温差通过控制系统调整加热装置为热板升降温,使得热板之间的温差维持在一定范围内,提升晶圆热处理的质量。
技术领域
本实用新型涉及半导体加工技术领域,特别指一种晶圆烘烤系统。
背景技术
在晶圆器件制造的光刻工艺流程中,晶圆的热处理是极其重要的工艺步骤。一般来说,在晶圆上涂布光阻之后,曝光完成之后,及显影完成之后,需使用热板对晶圆进行热处理。热处理会对光阻的膜厚以及最终的关键尺寸产生很大的影响。实际生产中常常需要使用多个热板,由于每个热板都是一套独立的加热装置为其供热,并且工艺流程中的热交换量也不同,这就导致了热板之间温度分布是不均的,这很大的影响了晶圆的处理质量。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种晶圆烘烤系统,可以使得热处理过程中热板的温度分布均匀。
本实用新型提供的技术方案如下:一种晶圆烘烤系统,包括:
机台,
加热装置,
若干热板,设置在所述机台上,所述加热装置为所述热板加热,
若干温度传感器,布设在每个所述热板上测温,每个热板上至少设置一个温度传感器;
减法器,获取所述温度传感器测得的每两个热板的温度差;以及,
控制装置,根据所述减法器获得的温度差,调节所述加热装置为热板加热,以使所述热板之间的温度差不超过第一设定值。
本技术方案,减法器对温度传感器测得的各个热板之间的温差进行比较,继而控制装置接收这一温差,通过调节加热装置为热板升降温,使得热板之间的温差维持在一定的范围内。可以使得该晶圆烘干系统的各个热板提供比较均匀的加热环境,进而保证晶圆热处理工艺的质量。
优选的,进一步包括报警器,所述报警器与所述减法器通讯连接;
当所述减法器获得的温度差大于第二设定值时,所述报警器报警。
优选的,进一步包括报警器,所述报警器与所述温度传感器通讯连接;
当所述温度传感器测得所述热板的温度超过预设温度范围时,所述报警器报警。
前述技术方案,当热板的温度或者相互之间的差值超过设定值时,说明出现了自控系统无法解决的问题,此时设置报警器报警通知操作人员,引入人力介入以防止状况更加严重。
具体的,所述报警器包括:发声器;和/或;警报灯。
具体的,进一步包括显示面板;所述显示面板与所述温度传感器通讯连接,以实时显示其测量值。
具体的,进一步包括显示面板;所述显示面板与所述减法器通讯连接,以实时显示其测得的温度差。
本实用新型提供的一种晶圆烘烤系统,能够带来以下至少一种有益效果:
1、基于热板之间的温差通过控制系统调整加热装置为热板升降温,使得热板之间的温差维持在一定范围内,提升晶圆热处理的质量。
2、在热板之间的温差或热板的温度到达一定的限度时,通过报警装置通知操作者处理异常情况,使晶圆生产免遭损失。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





