[实用新型]太阳能电池片测方阻装置有效
申请号: | 201721373675.6 | 申请日: | 2017-10-23 |
公开(公告)号: | CN207338308U | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 袁华斌 | 申请(专利权)人: | 常州亿晶光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258 | 代理人: | 郑云 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 片测方阻 装置 | ||
本实用新型涉及一种太阳能电池片测方阻装置,使用传输装置向测试平台下方输送太阳能电池片,测试平台上固定安装测试四探针面板,测试四探针面板正下方设置升降装置用于将传输装置输送来的太阳能电池片靠近或远离测试四探针面板,检测时靠近,检测完成后远离,通过测试四探针面板检测完成的太阳能电池片再由传输装置输出。本实用新型通过传输装置输送太阳能电池片,通过控制部分控制升降装置来调节太阳能电池片与测试四探针面板之间的距离,距离控制较准确,检测结果也较准确,节省了人力,提高了测试效率。
技术领域
本实用新型涉及太阳能电池片技术领域,尤其是涉及一种太阳能电池片测方阻装置。
背景技术
目前太阳能电池片领域中,制作P-N结,即扩散为太阳能电池技术的核心,扩散工艺在炉管内进行高温同磷源进行反应,在太阳能电池片表面生成磷单质,并通过高温与硅原子发生替换进入硅晶体内部,形成N型半导体,与之前P型太阳能电池片接触区域形成PN结。其中,判定扩散是否优良均是通过测试太阳能电池片表面方阻来体现。目前对太阳能电池片的方阻测试是人工进行的,太阳能电池片与测试机器之间的距离不好控制,测试效率低,且测试结果不准确。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是:为了克服现有技术中对太阳能电池片的方阻测试是人工进行的,太阳能电池片与测试机器之间的距离不好控制,测试效率低,且测试结果不准确的问题,提供一种太阳能电池片测方阻装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种太阳能电池片测方阻装置,包括传输装置、测试平台、测试四探针面板、升降装置和控制部分,所述测试四探针面板固定安装在所述测试平台上,所述测试平台位于所述传输装置的正上方,所述升降装置位于所述传输装置的正下方,所述升降装置上固定安装有用于放置太阳能电池片的载物台,所述升降装置驱动载物台上的太阳能电池片靠近或远离测试平台,所述测试平台的左、右两侧均固定安装有光电传感器,所述光电传感器与所述控制部分电连接。
本实用新型的太阳能电池片测方阻装置,使用传输装置向测试平台下方输送太阳能电池片,测试平台上固定安装测试四探针面板,测试四探针面板正下方设置升降装置用于将传输装置输送来的太阳能电池片靠近或远离测试四探针面板,检测时靠近,检测完成后远离,通过测试四探针面板检测完成的太阳能电池片再由传输装置输出。本实用新型通过传输装置输送太阳能电池片,通过控制部分控制升降装置来调节太阳能电池片与测试四探针面板之间的距离,距离控制较准确,检测结果也较准确,节省了人力,提高了测试效率。
进一步的,所述传输装置包括支架,所述支架固定安装在所述测试平台上,所述支架上转动安装有主动轴和从动轴,所述主动轴与所述从动轴位于同一水平面上,所述主动轴与所述从动轴的两端分别固定安装有主动皮带轮和从动皮带轮,所述主动皮带轮与所述从动皮带轮通过皮带传动连接,所述主动皮带轮通过电机驱动转动,电机转动带动主动皮带轮转动,主动皮带轮通过皮带带动从动皮带轮转动,从而带动皮带移动,位于皮带上的太阳能电池片可由皮带输送。
为了简化本实用新型的整体安装结构,所述升降装置为气缸,所述载物台固定安装在所述气缸的伸出端,所述载物台位于两条所述皮带之间。
为了简化本实用新型的整体安装结构,所述控制部分为可编程逻辑控制器。
本实用新型的有益效果是: 本实用新型的太阳能电池片测方阻装置,使用传输装置向测试平台下方输送太阳能电池片,测试平台上固定安装测试四探针面板,测试四探针面板正下方设置升降装置用于将传输装置输送来的太阳能电池片靠近或远离测试四探针面板,检测时靠近,检测完成后远离,通过测试四探针面板检测完成的太阳能电池片再由传输装置输出。本实用新型通过传输装置输送太阳能电池片,通过控制部分控制升降装置来调节太阳能电池片与测试四探针面板之间的距离,距离控制较准确,检测结果也较准确,节省了人力,提高了测试效率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造