[实用新型]接杆内径千分尺校对装置有效

专利信息
申请号: 201721372028.3 申请日: 2017-10-23
公开(公告)号: CN207351326U 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 孙袁;张广松 申请(专利权)人: 海宁弘德机械有限公司
主分类号: G01B3/18 分类号: G01B3/18;G01B5/12
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 代理人: 尉伟敏
地址: 314423 浙江省嘉兴市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 内径 千分尺 校对 装置
【说明书】:

实用新型的目的是提供一种接杆内径千分尺校对装置。一种接杆内径千分尺校对装置,包括:底座,两个相对内侧面平行设置且下端分别与底座连接的校对基准卡板,若干个长度各不相同的主基准调整柱,若干个长度各不相同的副基准调整柱,两个定位组件;一个主基准调整柱和一个副基准调整柱同轴设置,一个主基准调整柱的一端压住第一个校对基准卡板的内侧面的前部且通过一个定位组件与第一个校对基准卡板可拆卸连接;一个副基准调整柱的一端压住第二个校对基准卡板的内侧面的前部且通过另一个定位组件与第二个校对基准卡板的前部可拆卸连接。该接杆内径千分尺校对装置适用于接杆内径千分尺长度校对,提高机械零件的内孔孔径测量精度。

技术领域

本实用新型涉及量具校对领域,尤其是一种接杆内径千分尺校对装置。

背景技术

对于具有内孔孔径为400mm至1200mm的机械零件,接杆内径千分尺是常用的测量内孔孔径的量具;成套的内径千分尺虽附有两测量面相互平行的精密校对卡规用以校对内径千分尺的微分头,但精密校对卡规对长度较长的接杆内径千分尺的长度无法进行校对;由于接杆千分尺的接杆长度存在累积误差而又没有合适的接杆内径千分尺校对用具,存在机械零件的内孔孔径测量精度较低易造成报废的不足,因此,设计一种适用于接杆内径千分尺长度校对,提高机械零件的内孔孔径测量精度的接杆内径千分尺校对装置,成为亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服目前由于接杆千分尺的接杆长度存在累积误差而又没有合适的接杆内径千分尺校对用具,存在机械零件的内孔孔径测量精度较低易造成报废的不足,提供一种适用于接杆内径千分尺长度校对,提高机械零件的内孔孔径测量精度的接杆内径千分尺校对装置。

本实用新型的具体技术方案是:

一种接杆内径千分尺校对装置,包括:底座;所述的接杆内径千分尺校对装置还包括:两个相对内侧面平行设置且下端分别与底座连接的校对基准卡板,若干个长度各不相同的主基准调整柱,若干个长度各不相同的副基准调整柱,两个定位组件;一个主基准调整柱和一个副基准调整柱同轴设置,一个主基准调整柱的一端压住第一个校对基准卡板的内侧面的前部且通过一个定位组件与第一个校对基准卡板可拆卸连接;一个副基准调整柱的一端压住第二个校对基准卡板的内侧面的前部且通过另一个定位组件与第二个校对基准卡板的前部可拆卸连接。接杆内径千分尺校对装置使用时,按照被测孔径尺寸选择合适长度的组装成接杆内径千分尺;根据所组装的接杆内径千分尺的测量范围选用在两个校对基准卡板的相对内侧面之间进行校对,或选用在合适的主基准调整柱另一端与第二个校对基准卡板的内侧面之间进行校对,或选用在合适的副基准调整柱另一端与第一个校对基准卡板的内侧面之间进行校对,或选用在合适的主基准调整柱另一端与合适的副基准调整柱之间进行校对;将接杆内径千分尺放在对应的支承块组的V形块上进行测量;将接杆内径千分尺的测量值与两个校对基准卡板的相对内侧面之间的基准数值,或主基准调整柱另一端与第二个校对基准卡板的内侧面之间的基准数值,或副基准调整柱另一端与第一个校对基准卡板的内侧面之间的基准数值,或主基准调整柱另一端与副基准调整柱之间的基准数值对比得出综合误差值,接杆内径千分尺测量工件时将综合误差值补偿到被测数据中即可得到准确的孔径尺寸数值。该接杆内径千分尺校对装置适用于接杆内径千分尺长度校对,提高机械零件的内孔孔径测量精度。

作为优选,所述的定位组件包括:设于校对基准卡板内侧面的定位沉孔,设于校对基准卡板外侧面且与定位沉孔底面贯通的通孔,设有定位螺孔且直径与定位沉孔直径匹配的定位柱,定位螺钉;定位螺钉的螺杆穿过通孔且与定位螺孔螺纹连接;一个主基准调整柱的一端与一个定位组件的定位柱连接;一个副基准调整柱的一端与另一个定位组件的定位柱连接。定位组件使主基准调整柱的一端或副基准调整柱的一端与校对基准卡板拆装方便,且主基准调整柱的一端或副基准调整柱的一端与校对基准卡板的内侧面紧贴连接稳固,提高测量精度。

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