[实用新型]一种阵列基板、显示面板以及显示装置

说明书

本实用新型公开了一种阵列基板、显示面板以及显示装置，阵列基板包括衬底基板，衬底基板包括显示区域和非显示区域，还包括：形成在显示区域上的m组数据线组，每一组数据线组包括n条数据线，其中，n≥4的偶数；形成在非显示区域上的第一测试线和第二测试线；第一测试线和各数据线位于同层，且第一测试线与各数据线组中的第奇数条数据线均电连接；第二测试线和各数据线位于不同层，且第二测试线与各数据线组中的第偶数条数据线均电连接；第p组数据线组中第n条数据线以及第p+1组数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和第二测试线电连接；使得需要换层的第二测试线不需要设计额外的分支，提高了阵列基板非显示区域的空间利用率。

技术领域

本实用新型实施例涉及显示面板的布线技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示面板以及显示装置。

背景技术

随着手机、电视等终端行业的快速发展，对显示面板的要求越来越高，显示面板各厂商出货前需要对每一片显示面板进行功能测试，以确保显示面板的质量可靠性。

现有技术中，对显示面板进行测试，方法主要包括：Fully Contact和LCD Quicker的测试方法，相比Fully Contact的方法，LCD Quicker方法具有可重复检测，测试效率高等优点，因此LCD Quicker方法越来越被广泛应用。

参照图1示出的一种现有技术的一种LCD Quicker方法的阵列基板布线设计电路图，以及图2示出的一种现有技术的一种LCD Quicker方法的阵列基板布线设计布局(layout)图，在该阵列基板上设置了测试线SE、测试线SO，其中，SE为与阵列基板上数据线中的偶数列相连的测试线，SO为与阵列基板上数据线中的奇数列相连的测试线，SO分别通过薄膜晶体管T1、T3、T5与第一数据线D1、第三数据线D3、第五数据线D5电连接，SE分别通过薄膜晶体管T2、T4、T6与第二数据线D2、第四数据线D4、第六数据线D6电连接，同时控制薄膜晶体管开关的控制线T与各薄膜晶体管的栅极电连接，为了提高阵列基板上引出测试线SE和测试线SO时的空间利用率，SE和SO位于阵列基板上的不同层。

然而，在该方案中，由于现有的线宽线距的设计要求，导致SE线不可避免的需要设计成上下两支，且SE线与每一根数据线连接时都需要通过层间的导通孔来换层，大大降低了布线的空间利用率，挤占了测试线SE和数据线之间的薄膜晶体管T1、T2、T3、T4、T5、T6的设计空间，不利于薄膜晶体管T1、T2、T3、T4、T5、T6的W/L(其中，W为薄膜晶体管源极和漏极的纵向宽度，L为薄膜晶体管的有源层的宽度)参数的提高，当面对阵列基板功能测试时的像素电极的RC负载较大时，上述的W/L参数难以满足设计要求。

实用新型内容

本实用新型提供一种阵列基板、显示面板以及显示装置，以实现在阵列基板有限的非显示区域设计出空间利用率高的测试电路。

第一方面，本发明实施例提供了一种阵列基板，所述阵列基板包括衬底基板，所述衬底基板包括显示区域和非显示区域，所述阵列基板还包括：

形成在所述衬底基板显示区域上的m组数据线组，所述m组数据线组沿第二方向依次排列，每一组所述数据线组包括n条沿第一方向延伸的数据线，其中，n≥4的偶数；

形成在所述衬底基板非显示区域上的第一测试线和第二测试线，所述第一测试线和所述第二测试线沿第二方向延伸，沿第一方向排列；所述第一测试线和各所述数据线位于同层，且所述第一测试线与各所述数据线组中的第奇数条所述数据线均电连接；所述第二测试线和各所述数据线位于不同层，且所述第二测试线与各所述数据线组中的第偶数条所述数据线均电连接；

第p组所述数据线组中第n条数据线以及第p+1组所述数据线组中第2条数据线通过同一个导通孔和所述第二测试线电连接；

其中，m为大于或等于2的整数，n为大于或等于4的偶数，1≤p＜p+1≤m，p为正整数，所述第一方向与所述第二方向交叉。