[实用新型]一种EEPROM测试工装

说明书

本实用新型公开了一种EEPROM测试工装，该测试工装包括用于显示测试数据的电脑上位机、该测试工装与电脑上位机通讯的串口通讯模块、用于接收电能表对EEPROM芯片操作数据的7块ARM辅芯片和1块ARM主芯片、向该测试工装提供电源的电源电路、用于存储操作数据的外置RAM和放置EEPROM芯片的EEPROM芯片座。将EEPROM测试工装接入电能表与EEPROM芯片之间，测试电能表储存的安全性与正确性，电路结构简单，使用灵活。

技术领域

本实用新型涉及电能表存储器技术领域，具体涉及一种针对电子式电能表的EEPROM存储器进行测试的EEPROM测试工装。

背景技术

随着电子技术的不断发展，电子式电能表的功能日新月异，功能越来越复杂，存储的数据量越来越多，例如月使用电量、年使用电量、使用金额等数据的保存。保存的数据越来越多，势必更加会考虑EEPROM存储器的数据读写的位置是否正确，EEPROM存储器的读写数据值是否正确，因此对EEPROM存储器需要测试的点更加多，这对于测试员而言将是一项很艰巨很耗时的任务。

现有技术中，公开号为CN105738855A的中国发明专利公开了一种面向智能电表嵌入式应用的测试方法，可以对电表的存储芯片单元和计量芯片单元进行测试，包括：存储芯片对不同数据的分块存储，EEPROM不能写时的存储策略；智能电表重要数据是否有备份；存储器重要数据被破坏可否自恢复；存储数据是否有溢出错误。该方法提供的策略未实质解决电表的EEPROM存储器测试数据安全性问题。

传统的测试方法是在取下EEPROM存储器芯片并修改里面的数据，再将EEPROM芯片焊回电能表上，电能表上电测试。每测试EEPROM存储器芯片就要保存的一个数据量，都要如上重复做一遍，而一个复杂功能的电能表可能需要测试上百个数据量，这样工作量特别大。而且在测试电能表长时间走字的情况下，也没有监视整个EEPROM存储器芯片保存，这也就是一个安全隐患。

实用新型内容

为了解决上述测试可靠性与效率的不足而提供的安全可靠简单方便，本实用新型提供了一种使用范围广的测试EEPROM工装。与普通测试方法相比，提高了测试效率，拓宽了测试广度，也更加不容易损坏电能表。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案。

本实用新型公开了一种EEPROM测试工装，接入电能表与EEPROM芯片之间，用于测试电能表储存的安全性与正确性，电路结构简单，使用灵活，实现原理为：通过电能表与EEPROM芯片之间接入EEPROM测试工装，监视到电能表到EEPROM芯片这条链路上的数据，并通过电脑上位机显示出来。

本实用新型的EEPROM测试工装包括用于显示测试数据的电脑上位机、该测试工装与电脑上位机通讯的串口通讯模块、用于接收电能表对EEPROM芯片操作数据的7块ARM辅芯片和1块ARM主芯片、向该测试工装提供电源的电源电路、用于存储操作数据的外置RAM和放置EEPROM芯片的EEPROM芯片座；所述7块ARM辅芯片和1块ARM主芯片以串联方式连接RX和TX引脚并通过串口通讯模块连接电脑上位机，所述1块ARM主芯片的IO端口与外置RAM连接。

优选的是，该测试该测试工装还设置有多组单排插针。

在上述任一技术方案中优选的是，该测试工装的单排插针包括第一单排插针J10、第二单排插针J6。

在上述任一技术方案中优选的是，该测试工装还设置有继电器HF1、按钮S1、通讯芯片IC7、第一光耦U2和第二光耦U3。

在上述任一技术方案中优选的是，所述电能表的线路板上的EEPROM芯片所在位置的铜皮分别与该测试工装的第一单排插针J10相连，该测试工装的USB线与电脑上位机的串口通讯模块相连，EEPROM芯片放入该测试工装的EEPROM芯片座中，通过电脑上位机显示电能表对EEPROM芯片操作监视。