[实用新型]一种变压器安规超声波探伤检测装置

权利要求书

1.一种变压器安规超声波探伤检测装置，其特征在于，检测装置内置超声波探伤模块超声波探伤模块包括发射电路、接收电路及数据处理电路，发射电路、接收电路同时与数据处理电路连接；

所述发射电路中电源VCC经电容C3接地，同时电源VCC接芯片U1的4端口和8端口，电源经电阻R1接电阻R2，电阻R2经二极管D2接滑动变阻器W1，芯片U1的5端口经电容C2接地，芯片U1的2端口接滑动变阻器W1的触头端，芯片U1的1端口接地，芯片U1的3端口经电阻R3接电阻R4，芯片U1的7端口经二极管D1接滑动变阻器W1，芯片U1的6端口经电容C1接地，滑动变阻器W1经电容C1接地，电阻R3经电容C4接地，电阻R4接晶体管Q1的基极，晶体管Q1的发射极接地，晶体管Q1的集电极经电阻R6接电阻R5，电阻R5接电源，电阻R6经电容C5接二极管D3，电容C5经二极管D4接地，二极管D3接发射探头，同时二极管D3经电阻R7接地；

所述接收电路中芯片U2的2端口经电阻R8接地，同时芯片U2的2端口经滑动变阻器R10接芯片U2的6端口，芯片U2的7端口接+5V电压，同时芯片U2的7端口经电容C7接地，芯片U2的3端口接接收探头，同时3端口经电阻R9接地，芯片U2的4端口经电容C6接地，同时4端口接-5V电压，芯片U2的6端口经电容C8接地，芯片U2的6端口经电阻R11接地，同时芯片U2的6端口接芯片U4的3端口，芯片U3的1端口经滑动变阻器R13接电阻R12，电阻R12接地，芯片U3的4端口经电容C10接地，同时4端口接-5V电压，芯片U3的7端口经电容C9接地，同时7端口接+5V电压，芯片U3的6 端口接输出接口P4，同时6端口接输出接口P5，接收电路经输出接口P4接数据处理电路；

所述数据处理电路中芯片U5的CLK端口接电容C55，电容C55经电阻R7接芯片U4的DCLK端口，芯片U5的CLK端口分别经电阻R56和R57接电源和接地，芯片U5的CAPB端口和CAPT端口分别经电容C43和C44接地，同时CAPB端口分别经电容C42和C43接CAPT端口，芯片U5的SENSE端口和REFCOM端口同时接地，芯片U5的VREF端口和VINB端口同时经电阻R47接芯片U7的INA+端口，电阻R47分别经电容C39和电容C40接地，芯片U5的VINA端口经电阻R46接芯片U6的OUTA端口，电阻R46经电阻R51接电阻R52，电阻R52接芯片U7的OUTB端口，芯片U7的OUTB端口经电阻R55接电阻R53，电阻R53接芯片U7的OUTA端口和INA-端口，芯片U7的INB-接电阻R53，芯片U7的VCC端口和VEE端口接电源，芯片U7的INB+端口接地，电阻R51经二极管D2和二极管D1接电阻R48，芯片U6的VCC端口接电源，芯片U6的INA-端口经二极管D2和二极管D1接电阻R48，芯片U6的INA+端口经电阻R4接输出接口SMA，芯片U6的INA+端口接电阻R48接地，芯片U1A的DATA0端口经电阻R8接芯片U4的DATA端口，芯片U1A的nCSO端口接芯片U4的CS端口，芯片U1A的ASDO端口接芯片U4的ASDI端口，芯片U4的GND端口接地，芯片U4的VCC端口经电容C5接地，同时芯片U4的VCC端口接电容C6，芯片U4的VCC端口接电源；

所述芯片U1采用555定时器，所述芯片U2采用MAX4104型高速运算放大器，所述芯片U3采用AD8099型超低噪声和超低失真的电压反馈运算放大器，所述芯片U4采用M25P64型FLASH存储器，所述芯片U5采用AD9226型模数转换器，所述芯片U6采用AD8065型低噪声高速CMOS运算放大器，所述芯片U7采用TL072型运算放大器，所述芯片U1A采用EP4CE15F23C8型现场可编程门阵列。