[实用新型]一种新型防爆膜压痕凹凸点快速检验治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及防爆膜贴膜检测领域，具体涉及一种新型防爆膜压痕凹凸点快速检验治具。

背景技术

随着现代技术的发展，触摸屏在各个领域被广泛应用。为防止屏幕破碎，提高屏幕的透过率会在屏幕上贴附各种膜材，而防爆膜就是其中一种，防爆膜贴附易出现小的凹凸点及压痕且作业检查耗费时间，不易检出。

实用新型内容

因此，本实用新型提供一种防爆膜检验治具，可快速有效的检出防爆膜在贴附后出现的凹凸点及压痕。

为实现上述目的，本实用新型提供的一种新型防爆膜压痕凹凸点快速检验治具，包括检测箱和光源箱，所述检测箱内设有一检测台，所述检测箱上还开设有一对应该检测台的入光口，所述光源箱内设有出射平行单色光的平行单色光源组件，所述光源箱上开设有对应该平行单色光源组件的出射光的出光口，所述光源箱的出光口与检测箱的入光口相对应，进而使得平行单色光源组件的出射光直射于检测台上。

本实用新型的一种优选方案，所述平行单色光源组件包括单色光源、凹透镜及凹面镜，所述单色光源发出单色光射至凹透镜上，并通过凹透镜折射形成扩散光，经凹透镜折射形成的扩散光射至凹面镜上，并通过该凹面镜反射形成平行光，并从光源箱上的出光口射出。

本实用新型的另一种优选方案，所述单色光源为短波单色光源。

本实用新型的另一种优选方案，所述光源箱与检测箱之间形成不透光的密闭连接。

通过本实用新型提供的技术方案，具有如下有益效果：

通过将平行单色光照射至贴附后的防爆膜上，由于膜凹凸点及压痕会造成光行程差的改变，通过光的的干涉而在凹凸点及压痕位置会形成明暗条纹及光的颜色不均，从而可快速检出防爆膜凹凸点及压痕不良。

附图说明

图1所示为实施例中新型防爆膜压痕凹凸点快速检验治具的结构示意图；

图2所示为短波平行单色光直射至带测产品的示意图；

图3所示为反射光的干涉波长示意图一；

图4所示为图3中干涉波长的效果图；

图5所示为反射光的干涉波长示意图二；

图6所示为图5干涉波长的效果图；

图7所示为检测效果图。

具体实施方式

为进一步说明各实施例，本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分，其主要用以说明实施例，并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容，本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点。图中的组件并未按比例绘制，而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。

现结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

本实施例中，以防爆膜贴附于OGS(one-glasssolution，单片式玻璃触控面板)为例。但在实际运用中，不局限于此。

参照图1、图2所示，本实用新型提供的一种新型防爆膜压痕凹凸点快速检验治具，包括检测箱1和光源箱2，所述检测箱1内设有一检测台11，所述检测箱1上还开设有一对应该检测台11的入光口(未示出)，所述光源箱2内设有出射平行单色光的平行单色光源组件，所述光源箱2上开设有对应该平行单色光源组件的出射光的出光口(未示出)。

具体的，所述平行单色光源组件包括单色光源31、凹透镜32及凹面镜33，所述单色光源31具体为短波单色光源31，如紫色光源。所述单色光源31发出单色光射至凹透镜32上，并通过凹透镜32折射形成扩散光，经凹透镜32折射形成的扩散光射至凹面镜33上，并通过该凹面镜33反射形成平行光，并从光源箱2上的出光口射出。

将待测产品放置在检测台11上，所述光源箱2的出光口与检测箱1的入光口相对应，进而使得平行单色光源组件的出射光直射于检测台11的待测产品上，如图2所示。当光照射到OGS上后，在没有凹凸点压痕的位置由于光程差是相等的，此时光波反射叠加后成同一颜色。若防爆膜的贴附具有凹凸点4或压痕，此时光波反射的光程差是变化的，当二干涉的反射光的波谷与波峰相对，如图3所示，这样叠加之后则消减为无，如图4所示。当二干涉的反射光的波长相重叠时，如图5所示，这样叠加之后则光强增强，如图6所示。进而出现明暗相间的干涉条纹及光的颜色不均，如图7所示。从而可快速检出防爆膜凹凸点及压痕不良。

本实施例中，所述单色光源31为短波单色光源31。采用短波单色光源31进行测试，其明暗相间的条纹会更加明显。