[实用新型]一种二极管测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测装置，具体公开了一种二极管测试治具。

背景技术

二极管作为一种用途多样的电子元件，在各种电子产品上应用广泛。在生产二极管的过程中，需要对二极管进行特性检查，以判断产品是否合格再进行包装出货。

传统的二极管测试手法需要人为把二极管放置连接在测试设备上，再进行通电检测，这样的检测方法需要浪费大量工时，降低生产效率。

实用新型内容

基于此，有必要针对现有技术问题，提供一种二极管测试治具，设置独特的结构，在底座上间隔设置两个高度不一的测试电极，通过磁块将二极管一端吸附连接在一个测试电极上，然后人为地将需要测试的二极管未连接测试电极的一端按下就能直接接触另一测试电极上，其结构简单，操作方便，有效地降低工时、提高检测效率。

为解决现有技术问题，本实用新型公开一种二极管测试治具，包括底座，底座上并列设置有测试电极A、测试电极B，测试电极A、测试电极B与底座固定连接，测试电极A的高度比测试电极B的高度要高，测试电极A上方固定连接有若干磁块。

在底座上间隔设置测试电极A、测试电极B，二极管一端的电极被测试电极A上的磁块吸引而与测试电极A连接，需要测试时，只需将二极管未被磁块吸附的一端电极下压到与测试电极B连接时即可进行测试，其结构简单，操作方便，可有效提高检测效率。

优选地，底座上还固定连接有位于测试电极A远离测试电极B一侧的磁铁，底座上方固定连接有待测台，待测台包括平台和斜台，磁铁位于平台下方，磁块位于斜台下方。

优选地，磁块为圆柱磁铁。

优选地，待测台上靠近测试电极B一侧设置有若干收纳孔，磁块固定连接在收纳孔中。

优选地，收纳孔深度与磁块尺寸一致。

优选地，底座上位于测试电极B远离测试电极A一侧固定连接有挡板。

本实用新型的有益效果为：本实用新型公开一种二极管测试治具，设置独特的装配结构，在底座上间隔设置测试电极A、测试电极B，二极管一端的电极被测试电极A上的磁块吸引而与测试电极A连接，需要测试时，只需将二极管未被磁块吸附的一端电极下压到与测试电极B连接时即可进行测试，其结构简单，操作方便。设置的待测台能够方便待测二极管的存放和输送，测试电极B后方的挡板也可防止二极管滑下待测台后飞出，实用性强，能够有效提高检测效率，降低工时。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图。

图2为本实用新型的待测台与底座拆分后的结构示意图。

附图标记为：底座1、磁铁11、待测台12、平台121、斜台122、收纳孔123、挡板13、测试电极A2、测试电极B3、磁块4。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的特征、技术手段以及所达到的具体目的、功能，下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。

参考图1、图2。

本实用新型实施例公开一种二极管测试治具，包括底座1，底座1上并列设置有测试电极A2、测试电极B3，测试电极A2、测试电极B3与底座1固定连接，测试电极A2的高度比测试电极B3的高度要高，测试电极A2上方固定连接有若干磁块4。

在底座1上并列设置测试电极A2、测试电极B3，测试电极A2、测试电极B3之间的间隔应小于二极管两个电极之间的距离，测试电极A2的高度比测试电极B3的高度要高，可将高度差设置为2mm，磁块4可设置为6个，测试实施时，将二极管材料往磁块4靠近，二极管一端的电极被测试电极A2上的磁块4吸引而与测试电极A2连接，需要测试时，只需将二极管未被磁块4吸附的一端电极下压到与测试电极B3连接时即可进行测试。

为了让测试更方便快捷，基于上述实施例，底座1上还固定连接有位于测试电极A2远离测试电极B3一侧的磁铁11，底座1上方固定连接有待测台12，待测台12包括平台121和斜台122，磁铁11位于平台121下方，磁块4位于斜台122下方。在底座1上设置二极管待测台12，待测台12包括平台121及斜台122两部分，平台121下设置磁铁11，待测料可吸附在平台121上，当需要测试时，将二极管从平台121上往下拨动，物料从斜台122落下后被磁块4吸附，二极管的一个电极被磁块4吸附住，方便二极管待测料的存放及输送。

基于上述实施例，磁块4为圆柱磁铁。圆柱磁铁磁性强，二极管落下时，其电极可被快速吸附住。

为了提升磁块4吸附效果，基于上述实施例，待测台12上靠近测试电极B3一侧设置有若干收纳孔123，磁块4固定连接在收纳孔123中。