[实用新型]一种新型阵列光电传感器光栅位移检测系统有效
申请号: | 201721107657.3 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN207147414U | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
发明(设计)人: | 杨志军;李彦锋;蔡铁根;李乾;陈新 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 广东广信君达律师事务所44329 | 代理人: | 杨晓松 |
地址: | 510062 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 阵列 光电 传感器 光栅 位移 检测 系统 | ||
1.一种新型阵列光电传感器光栅位移检测系统,其特征在于:包括平行光源(1)、增量式玻璃光栅尺(2)、光电传感器阵列(3)、信号处理单元(4)、位移显示单元(5)以及高速电压比较器(6);其中,增量式玻璃光栅尺(2)垂直平行光源(1)的照射方向;光电传感器阵列(3)放置于该增量式玻璃光栅尺(2)光栅栅距内,并呈阶梯型均匀分布;高速电压比较器(6)连接于光电传感器阵列(3)和信号处理单元(4)之间,对光电传感器阵列(3)输出信号进行整形以及对整形得出的方波信号进行电平转换;所述信号处理单元(4)与位移显示单元(5)连接,将计算得到的位移值显示在位移显示单元(5)上。
2.根据权利要求1所述的一种新型阵列光电传感器光栅位移检测系统,其特征在于:所述光电传感器阵列(3)中光电传感器间的上下距离L=(H-n*K)/(n-1),光电传感器间的错位距离D=(W-M)/(n-1);其中,H为光栅高度,n为光电传感器数量,K为光电传感器高度,W为栅距,M为光电传感器在增量式玻璃光栅尺(2)移动方向上的宽度。
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