[实用新型]一种碳化硅微粉粒径在线监测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种监测装置，具体涉及一种碳化硅微粉粒径在线监测装置，属于碳化硅微粉技术领域。

背景技术

碳化硅微粉在工业生产过程中，由于粉体颗粒吸收大量的机械能和热能，使其表面具相当高的比表面能，从而使颗粒处于极不稳定状态而具有发生团聚的趋势，这种因素将严重影响碳化硅的分散性，从而影响其优异性的充分发挥。特别是在晶体硅线切割领域，当碳化硅微粉颗粒团聚时，会造成假性的“大颗粒”，这些因素将会在下步的线切割过程中造成影响。除此之外，超细的碳化硅微粉在陶瓷、军工、航空等领域也有重要的应用，这些领域对微粉粒度的要求较严格。这就要求碳化硅微粉生产厂家要更精准地检测，尤其检测更细的样品时（例如：JIS#2500、JIS#3000、JIS#4000、JIS#6000、JIS#8000 以及JIS#10000），由于颗粒更细小（甚至是亚微米级颗粒），团聚趋势更加明显，因此如何更合理、科学地对样品进行分散是准确检测微粉粒度的前提。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足及问题，本实用新型提供一种碳化硅微粉粒径在线监测装置，提高碳化硅粒径的监测精度，同时监测效率也大大提高。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种碳化硅微粉粒径在线监测装置，从左至右依次间开设有激光器、扩束准直镜、光阑、偏振片、傅里叶透镜、面阵CCD和PC机；在所述傅里叶透镜和面阵CCD之间设有待测碳化硅微粉自循环体；在所述待测碳化硅微粉自循环体上正对所述傅里叶透镜汇聚点处开有截断通孔。

作为本实用新型进一步改进的，所述待测碳化硅微粉自循环体为环形状结构，在该环形状结构内间开设有多个风机；在所述环形状结构下方分别接有出料管和进料管。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

本实用新型方案的一种碳化硅微粉粒径在线监测装置，可实现对碳化硅微粉粒径及级配曲线进行快速取样检测分析，建立数据库；通过上述数据监测可实时对微粉磨机的鼓风机和分析机的变频电机转速进行调节，大大提高微粉磨机的工作效率，可减少微粉磨机的故障率、提高其整机使用寿命 ；可使现有的工业微粉磨机加工精度提高一个数量级，在对粒径有严格要求的微粉粒加工领域应用广泛。

附图说明

下面结合附图对本实用新型技术方案作进一步说明：

附图1为本实用新型的碳化硅微粉粒径在线监测装置的结构示意图；

图中：1-激光器；2-扩束准直镜；3-光阑；4-偏振片；5-傅里叶透镜；6-面阵CCD；7-PC机；8-待测碳化硅微粉自循环体；9-截断通孔；10-风机；11-出料管；12-进料管。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。

如附图1所示的本实用新型所述的一种碳化硅微粉粒径在线监测装置，从左至右依次间开设有激光器1、扩束准直镜2、光阑3、偏振片4、傅里叶透镜5、面阵CCD 6和PC机7；在傅里叶透镜5和面阵CCD 6之间设有待测碳化硅微粉自循环体8；在所述待测碳化硅微粉自循环体8上正对傅里叶透镜5汇聚点处开有截断通孔9。

待测碳化硅微粉自循环体8为环形状结构，在该环形状结构内间开设有多个风机10；在环形状结构下方分别接有出料管11和进料管12；通过对待测碳化硅微粉自循环体8的设计，使待监测料从进料管12进入后经风机10向上循环后经截断通孔9被监测后进入出料管11，从而实现不断循环监测，自动化程度高，提高碳化硅粒径的监测精度，同时监测效率也大大提高。

激光器1发出一束窄光束，经扩束准直镜2后变为一束平行光，然后经过光阑3去除杂散光以及固定入射光直径后，再经过偏振片4的衰减，通过傅里叶透镜5汇聚，照射到待测碳化硅微粉自循环体8不断下落循环的待测碳化硅微粉上，之后由面阵CCD 6接收并将灰度图像通过USB接口输入PC机7，计算机可依据测得的图像灰度值，从而计算出待测碳化硅微粉颗粒的粒度信息。

以上仅是本实用新型的具体应用范例，对本实用新型的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本实用新型权利保护范围之内。