[实用新型]用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置有效
| 申请号: | 201721085910.X | 申请日: | 2017-08-28 |
| 公开(公告)号: | CN207688818U | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
| 发明(设计)人: | 钟富全;季荦;沈杭标 | 申请(专利权)人: | 晟铭电子(宁波)有限公司 |
| 主分类号: | G01B7/34 | 分类号: | G01B7/34 |
| 代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 官建红 |
| 地址: | 315800 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 待测物件 翘曲 顶针 发光二极管 表面凹陷 导电接触 电源 接触式测试装置 接触式检测装置 本实用新型 导电底板 导电回路 绝缘垫块 快速检测 物件表面 导电面 凹陷 导电 预设 供电 检测 | ||
1.一种用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置,其特征是,用于快速检测具有导电面的待测物件的表面凹陷或翘曲程度,所述接触式测试装置包括:
导电底板;
至少一个绝缘垫块,设置于所述导电底板上的第一区域,且承载所述待测物件;
多个导电接触顶针,设置于所述导电底板的未设置所述绝缘垫块的第二区域,所述多个导电接触顶针与所述导电底板构成电性连接;
电源,具有第一电极及第二电极,所述第一电极与所述导电底板电性连接,所述第二电极与所述待测物件的所述导电面电性连接,所述电源根据所述多个导电接触顶针是否接触所述待测物件的所述导电面而构成导电回路;以及
发光二极管,串接于所述第一电极与所述待测物件的所述导电面之间,或串接于所述第二电极与所述导电底板之间,且所述电源是否供电至所述发光二极管取决于所述导电回路的构成,进而指示用户所述待测对象的表面凹陷或翘曲是否超过预设程度。
2.根据权利要求1所述的用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置,其特征是,进一步包括:
第一开关,所述第一开关具有第一端、第二端及第三端,且选择性地将所述第一端与所述第二端导通,或将所述第一端与所述第三端导通,所述第一端电性连接所述待测物件,所述第二端电性连接所述电源的所述第一电极,所述第三端电性连接至所述发光二极管进而间接连接至所述电源的所述第一电极;以及
第二开关,所述第二开关具有第四端、第五端及第六端,且选择性将所述第四端与所述第五端导通,或将所述第四端与所述第六端导通,所述第四端电性连接至所述多个导电接触顶针且电性连接至所述电源的所述第二电极,所述第五端电性连接至所述发光二极管进而间接连接至所述电源的所述第一电极,所述第六端为浮接;
当所述第一端与所述第二端导通且第四端与所述第五端导通,所述发光二极管正常亮,当所述第一端与所述第三端导通且所述第四端与所述第六端导通,所述发光二极管正常灭。
3.根据权利要求1所述的用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置,其特征是,所述导电接触顶针系根据所述待测物件表面凹陷或翘曲的所述预设程度,而调整所述导电接触顶针与所述待测物件的所述导电面的接触距离。
4.根据权利要求1所述的用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置,其特征是,各所述导电接触顶针包括:
顶针头,设置于所述导电接触顶针的顶端;
弹簧,抵顶于所述顶针头的底部;以及
顶针底杆,用于容置于所述弹簧及所述顶针头,所述顶针底杆的一端抵顶于所述顶针头,且所述顶针底杆的另一端设置有与所述导电底板固定的固定结构。
5.根据权利要求4所述的用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置,其特征是,所述导电底板与所述导电接触顶针的所述另一端分别具有相合的螺纹结构。
6.根据权利要求1所述的用于检测物件表面凹陷或翘曲的接触式测试装置,其特征是,包括相对设置的两个限位块,设置于所述绝缘垫块上,所述两个限 位块分别相对设置有多条容置轨道,所述容置轨道容置固定滚棒的一端,所述固定滚棒的两端分别抵顶于所述容置轨道,所述固定滚棒通过所述容置轨道于所述容置轨道长度范围内相对所述限位块滑动,所述待测物件通过所述固定滚棒,不与所述绝缘垫块接触而容置于所述二限位块之间。
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