[实用新型]一种自密封压膜采样装置有效

专利信息
申请号: 201721071799.9 申请日: 2017-08-25
公开(公告)号: CN207268686U 公开(公告)日: 2018-04-24
发明(设计)人: 潘志东;吴程 申请(专利权)人: 浙江恒达仪器仪表股份有限公司
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22
代理公司: 杭州凯知专利代理事务所(普通合伙)33267 代理人: 邵志
地址: 310012 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 密封 采样 装置
【权利要求书】:

1.一种自密封压膜采样装置,包括底座(103)和活动连接在底座(103)上的压盖(102),所述底座(103)和压盖(102)之间可放置滤膜(252),其特征在于:还包括密封件(203),该密封件(203)将滤膜(252)密封连接于所述压盖(102)和底座(103)之间,所述压盖(102)上设有可与底座(103)相互吸引的磁性件(210)。

2.根据权利要求1所述的自密封压膜采样装置,其特征在于:所述压盖(102)呈中空框架结构,所述密封件(203)为设于压盖(102)下底面与之适配的环状结构。

3.根据权利要求2所述的自密封压膜采样装置,其特征在于:所述压盖(102)包括与底座(103)活动连接的第一端,所述磁性件(210)设于第一端正对面的自由端下表面。

4.根据权利要求1所述的自密封压膜采样装置,其特征在于:所述底座(103)和压盖(102)通过恒定扭矩(152)铰链。

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