[实用新型]一种PCBA测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及电路板技术领域，特别涉及一种PCBA测试治具。

背景技术

PCBA在进行测试时，通常是将PCBA固定后，将探针与PCBA上的测试点接触，对PCBA进行检测。现有的测试治具在检测时，通常采用手动或自动方式使探针与PCBA接触。手动方式灵活性较好，但是效率较低，测试准确性难以保证。而自动测试治具成本较高，在探针向PCBA移动至接触时，由于需要防止探针与PCBA接触时受损，需要设置限位机构，避免探针位移超过设定值，从而导致测试治具结构复杂，制造成本较高。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有技术的问题，提供了一种能够调整探针组件位置，避免探针组件受损，成本较低的PCBA测试治具。

具体技术方案如下：一种PCBA测试治具，包括支撑板，滑动台，第一轨道，安装台和检测基座，所述第一轨道和安装台设置在支撑板上，所述第一轨道有两条，两条第一轨道平行设置，所述滑动台跨接在两条第一轨道上，所述滑动台设有第二轨道，所述检测基座通过第二轨道与滑动台连接，检测基座包括探针组件，所述探针组件包括管体，弹性件和针部，所述针部一端为针头，另一端为接触头，接触头位于管体中，针头和接触头之间设有限位部，所述弹性件设置在管体中，接触头与弹性件的第一端部接触，管体设有凹陷部，凹陷部位于限位部和接触头之间。

以下为本实用新型的附属技术方案。

作为优选方案，所述管体包括收缩段，弹性件的第二端部抵靠于收缩段。

作为优选方案，所述针头具有多个接触端，多个接触端间隔设置。

作为优选方案，所述检测基座包括连接管和伸缩杆，所述管体与连接管连接，所述连接管设置在伸缩杆一端。

作为优选方案，所述第一轨道包括底座和导杆，底座设置在支撑板上，底座上方设有导杆，所述滑动台底部设有卡槽，卡槽卡设在导杆上。

本实用新型的技术效果：本实用新型的一种PCBA测试治具能够调整探针的位置以适应不同PCBA的测试点，提升了使用便利性；同时，探针与PCBA接触时能够具有缓冲能力，避免探针组件或PCBA受损，延长其使用寿命；此外，便于生产制造，降低了成本。

附图说明

图1是本实用新型实施例的一种PCBA测试治具的示意图。

图2是本实用新型实施例的一种PCBA测试治具的俯视图。

图3是本实用新型实施例的探针组件的分解图。

图4是本实用新型实施例的探针组件的示意图。

图5是本实用新型实施例的探针组件的复位时的示意图。

图6是本实用新型实施例的探针组件的收缩时的示意图。

具体实施方式

下面，结合实例对本实用新型的实质性特点和优势作进一步的说明，但本实用新型并不局限于所列的实施例。

如图1至图6所示，本实施例的一种PCBA测试治具包括支撑板1，滑动台2，第一轨道3，安装台4和检测基座5，所述第一轨道3和安装台4设置在支撑板1上。所述第一轨道3有两条，两条第一轨道3平行设置，所述滑动台跨接在两条第一轨道3上，从而使滑动台2能够沿第一轨道滑动。所述滑动台设有第二轨道21，所述检测基座通过第二轨道21与滑动台连接，从而使检测基座能够沿第二轨道21方向移动。所述检测基座5包括探针组件6，探针组件6包括管体61，弹性件62和针部63，所述针部63一端为针头7，另一端为接触头8，接触头8位于管体61中。针头7和接触头8之间设有限位部9，所述弹性件62设置在管体61中，接触头8与弹性件62的第一端部621接触。所管体61设有凹陷部611，凹陷部611位于限位部9和接触头8之间。上述技术方案中，通过设置第一、第二轨道，使得检测基座能够在横向和纵向移动，从而调整探针组件的位置。PCBA10放置在安装台4上，探针组件6检测时，针部63的针头与PCBA接触，此时针部相对管体移动，弹性件被压缩，当限位部9与凹陷部611接触(如图6)，使得针部无法继续移动。当针头与PCBA分离时，弹性件的回复力使得针头复位(如图5)。通过上述技术方案，使得探针与PCBA接触时，能够对探针进行缓冲，避免接触压力过大导致探针或PCBA受损。本实施例中，所述弹性件为弹簧。