[实用新型]测试设备通讯装置

说明书

本实用新型涉及测试设备通讯技术领域，提供了一种测试设备通讯装置。该测试设备通讯装置包括通讯模块，获取测试设备根据自动分选设备的测试指令得到的测试结果信息，将所述测试结果信息转换为TTL信号；信号处理模块，与通讯模块连接，将所述TTL信号按照预设通信协议转换成第一信号，同时发送给光电隔离模块；光电隔离模块，对所述第一信号进行隔离处理，同时发送给信号驱动模块；信号驱动模块，对所述经过隔离处理的第一信号进行增强处理，同时发送给所述自动分选设备，还用于获取所述自动分选设备的测试指令。上述测试设备通讯装置提高了测试设备和自动化分选设备之间通讯的灵活性，节约了测试设备资源，降低了测试成本。

技术领域

本实用新型属于测试设备通讯技术领域，更具体地说，是涉及一种测试设备通讯装置。

背景技术

随着科技的发展，集成电路芯片的生产需求也越来越大。目前，在集成电路芯片IC(Integrated Circuit，集成电路)的实际生产测试过程中，需要半导体测试设备与自动化分选设备配合使用，共同完成生产过程。而测试设备与自动化分选设备之间需进行通讯连接才能完成自动化生产，传统的通讯连接都是直接连接或使用中转电脑进行转接。这种连接方式存在一些不足。

常见的，在芯片测试项目较少，但又需要并行多个芯片测试的情况下，一般的测试设备自带的通讯接口会不足，只能通过增加测试设备数量来实现，浪费测试设备资源，增加测试成本。在不同型号测试设备与不同自动化分选设备之间通讯时，由于连接接口不一致往往不能直接连接，使得设备之间通讯不灵活。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试设备通讯装置，旨在实现提高测试设备和自动化分选设备之间通讯的灵活性，节约测试设备资源，降低测试成本。

本实用新型实施例提供了一种测试设备通讯装置，包括通讯模块、信号处理模块、光电隔离模块和信号驱动模块；

所述通讯模块，适于与外部PC(Personal Computer，个人计算机)机连接，获取测试设备根据自动分选设备的测试指令得到的测试结果信息，将所述测试结果信息转换为TTL(Transistor Transistor Logic，晶体管-晶体管逻辑)信号；

所述信号处理模块，与所述通讯模块连接，将所述TTL信号按照预设通信协议转换成第一信号，同时发送给所述光电隔离模块；

所述光电隔离模块，与所述信号处理模块连接，对所述第一信号进行隔离处理，同时发送给所述信号驱动模块；

所述信号驱动模块，与所述光电隔离模块连接，还适于与所述自动分选设备连接，对所述经过隔离处理的第一信号进行增强处理，同时发送给所述自动分选设备，还用于获取所述自动分选设备的测试指令。

可选的，所述通讯模块包括MAX3232芯片、DB1接口芯片、第一电容、第二电容、第三电容和第四电容；

所述MAX3232芯片的T1OUT引脚和R1IN引脚分别与所述DB1接口芯片连接；所述MAX3232芯片的T1IN引脚和R1OUT引脚分别与所述信号处理模块电连接，C1+引脚通过所述第一电容与C1-引脚连接，C2+引脚通过所述第二电容与C2-引脚连接，V+引脚通过所述第三电容与第一GND引脚连接，V-引脚通过所述第四电容与所述第一GND引脚连接，所述第一GND引脚接地；

所述DB1接口芯片还适于与所述外部PC机连接。

可选的，所述通讯模块还包括第一发光二极管和第二发光二极管；

所述第一发光二极管的负极与所述T1IN引脚连接，正极适于与所述外部电源连接；所述第二发光二极管的负极与所述R1OUT引脚连接，正极适于与外部电源连接。

可选的，所述信号处理模块包括STM32F103芯片；