[实用新型]一种数电实验电路故障可视化监测报警装置有效

专利信息
申请号: 201720983330.6 申请日: 2017-08-08
公开(公告)号: CN207215935U 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 高异 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R1/04
代理公司: 西安弘理专利事务所61214 代理人: 王奇
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 种数 实验 电路 故障 可视化 监测 报警装置
【说明书】:

技术领域

实用新型属于电子电路故障监测技术领域,涉及一种数电实验电路故障可视化监测报警装置。

背景技术

工科高等院校学生在做电类相关基础实验数电实验时,老师强调做实验时,要做到“听、看、摸、闻”。“听”,即听是否有异常声音;“看”,即看是否有冒烟、起火的现象;“摸”,摸芯片是否发烫;“闻”,即是否闻到有烧焦的糊味。如有上述异常现象发生,请立即关掉电源,查找故障原因。学生“听”、“看”、“闻”容易做到,但“摸”容易忘记,当芯片发热时,不能及时关闭电源,导致故障影响进一步扩大,甚至有可能造成芯片损坏或发生爆炸或冒烟起火等异常现象。

目前,高校大多数数电实验都是用的数电实验箱,学生做数电实验大多数都是在数电实验箱上完成实验,监测电路故障靠老师或学生自己“听、看、摸、闻”,没有一个辅助装置对芯片发烫进行故障提醒报警,以防故障影响进一步扩大,将故障消灭在起始状态。因此,研制一种监测数电实验电路故障的装置非常必要。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种数电实验电路故障可视化监测报警装置,解决现有技术在人为实验过程中未及时手摸芯片检测是否发烫,而导致设备故障或安全隐患的问题。

本实用新型采用的技术方案是,一种数电实验电路故障可视化监测报警装置,包括支架,支架中部安装有热像仪支撑面板,在热像仪支撑面板上安装有广角红外热像仪;支架中部还安装有支撑面板,支撑面板中镶嵌有电源电路模块和数据处理模块,电源电路模块和数据处理模块上方安装有用来显示数据处理模块警告结果的告警显示屏,数据处理模块连接有报警指示灯和蜂鸣器。

本实用新型的数电实验电路故障可视化监测报警装置,其特征还在于:

所述的热像仪支撑面板的一边采用六角螺钉与支架连接。

所述的支架一侧安装有一个环形空心钢圈,环形空心钢圈的一边采用六角螺钉与支架连接,在环形空心钢圈与放大镜的手柄套装连接。

所述的电源电路模块的电源与数电实验箱上的电源各自独立。

本实用新型的有益效果是,能够实时、可视、快速准确监测数电实验箱上实验电路芯片温度并报警,能全面监测实验箱上电路温度情况,对实验箱上电路全面的红外热图监测,能及时准确监测电路的安全状况,避免漏报、误报;而且能把监视结果以可视图像形式储存、传输,能直观准确得到监测结果,避免了电路故障的进一步扩大,提高了监测的准确性。

附图说明

图1是本实用新型装置的结构示意图;

图2是本实用新型的操作步骤框图。

图中,1.支架,2.热像仪支撑面板,3.广角红外热像仪,4.支撑面板,5.电源电路模块,6.数据处理模块,7.告警显示屏,8.环形空心钢圈,9.放大镜,10.数电实验箱体,11.电路芯片,12.报警指示灯,13.蜂鸣器。

具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

如图1所示,本实用新型装置的结构是,包括支架1,支架1中部安装有能沿Z轴上下移动的热像仪支撑面板2,在热像仪支撑面板2上安装有广角红外热像仪3,该广角红外热像仪3的广角镜头水平朝下倾斜角度为45度;支架1中部还安装有支撑面板4,支撑面板4中镶嵌有电源电路模块5和数据处理模块6,电源电路模块5和数据处理模块6上方安装有用来显示数据处理模块6警告结果的告警显示屏7,数据处理模块6连接有报警指示灯12和蜂鸣器13;支架1一侧安装有一个环形空心钢圈8,在环形空心钢圈8与放大镜9的手柄套装连接。

热像仪支撑面板2的一边采用六角螺钉与支架1连接,可以在支架1沿Z轴上下移动,以调节广角红外热像仪3的测温距离;广角红外热像仪3采用广角红外热像镜头,由于成像距离的缩短,使热传递损失大大减少,使热摄像信号大大增强。广角红外热像镜头是一种焦距短于标准镜头,视角大于标准镜头的摄像镜广角红外热像镜头。

电源电路模块5内包括多种电源电压,可以为整个设备提供5V、3.3V及1.5V的电源,以确保该广角红外热像仪3、数据处理模块6及告警显示屏7的正常工作。电源电路模块5的电源与数电实验箱10上的电源是各自独立的。

数据处理模块6基于嵌入式系统采用热像仪开发包SDK实现红外图像数据的非均匀性校正、盲元替换以及广角红外热像镜头的非线性失真补偿校正。

环形空心钢圈8直径小于3cm,环形空心钢圈8的一边采用六角螺钉与支架1连接,实验过程中,可以调节环形空心钢圈8的高度,将放大镜9的手柄放置于环形空心钢圈8中,也可从环形空心钢圈8中拿出放大镜9,方便学生放大查看芯片型号。

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