[实用新型]一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪有效

专利信息
申请号: 201720978478.0 申请日: 2017-08-07
公开(公告)号: CN207114035U 公开(公告)日: 2018-03-16
发明(设计)人: 李亦易;张贞;王鹏;郭源;刘鸣华 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙)11386 代理人: 庞许倩,马东伟
地址: 100190 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 激光 脉冲宽度 相关 测量仪
【权利要求书】:

1.一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,包括光学平台,所述光学平台上固定有入射光光阑组件,反射镜,分束镜,直角棱镜,后向反射器,第一透镜,倍频晶体,滤波片、第二透镜、光阑,光电二极管探测器;

所述入射光光阑组件与所述反射镜位于第一直线上,所述反射镜与所述第一直线夹角45°;所述反射镜与分束镜和后向反射器位于第二直线上,所述第一直线垂直于所述第二直线;所述分束镜与反射镜镜面平行设置,所述分束镜的正右侧设置有直角棱镜,正左侧依次设置有第一透镜,倍频晶体,滤光片,第二透镜,光阑以及光电二极管探测器。

2.根据权利要求1所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述入射光光阑组件包括第一入射光光阑和第二入射光光阑,所述第一入射光光阑和所述第二入射光光阑的高度一致且可调节大小。

3.根据权利要求1所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述后向反射器固定在台面为50mm×50mm的一维手动精密平移台A上,所述一维手动精密平移台A由上台面和下台面组成,所述上台面位于所述下台面的上方,通过高精度测微头控制所述上台面相对于下台面移动。

4.根据权利要求3所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述一维手动精密平移台A固定在精密位移平台上,所述精密位移平台能够移动,所述精密位移平台的行程为0~50mm。

5.根据权利要求4所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述精密位移平台通过步进电机驱动。

6.根据权利要求1所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述第一透镜固定在一维手动精密平移台B上,所述一维手动精密平移台B能够相对于所述倍频晶体移动。

7.根据权利要求1所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述倍频晶体固定在倍频晶体旋转支架上,所述倍频晶体旋转支架能够进行0~360°旋转。

8.根据权利要求7所述的一种测量皮秒激光脉冲宽度的自相关测量仪,其特征在于,所述倍频晶体旋转支架包括晶体卡套和旋转台,所述晶体卡套固定于所述旋转台上,所述倍频晶体放置于所述晶体卡套中。

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