[实用新型]工件探测结构有效
申请号: | 201720941016.1 | 申请日: | 2017-07-31 |
公开(公告)号: | CN207681040U | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 何宗儒;王崇权;徐春明;林可可;张勇 | 申请(专利权)人: | 昆山全盈自动化设备有限公司 |
主分类号: | B07C5/342 | 分类号: | B07C5/342 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测装置 线性移动装置 探测结构 本实用新型 往复式位移 感测机构 缺失问题 向上位移 向下位移 移动装置 探测件 探测物 误判率 搭接 滑设 机座 料品 压扁 瑕疵 连结 灵敏 探测 | ||
本实用新型是关于一种工件探测结构,其主要包含一机座;一探测装置,滑设于该机座上,该探测装置包含一探测件;以及一线性移动装置,其分离地与该探测装置搭接;前述构成,该线性移动装置向上作动时推动该探测装置沿该机座向上位移,该线性移动装置向下作动时,该探测装置以自身重力沿该机座向下位移,进而使该探测装置进行往复式位移;藉此,以解决先前技术中因连结力带动探测,且缺乏灵敏的感测机构设计,因而极易将探测物内的瑕疵料品压扁,导致提高误判率等的缺失问题。
技术领域
本实用新型是关于一种工件探测结构,尤其是一种以探针检测工件针孔良率的探测结构。
背景技术
在工业制造领域中,需要检测电子零件或紧固件的成品或半成品零部件的成品率,以改进制造工艺。请参照台湾新型第M412000号专利,在利用习用检测装置检测含有凹槽或带孔的待测工件时,需要将一探针伸入该待测工件的凹槽或零部件的孔洞,判断其中是否含有积液、残料以及瑕疵等。一般检测机台的探针结构,会利用与待测工件形状对应的探针检查针孔内是否有瑕疵,例如积液、残料,探针直接结合在驱动器上,跟着驱动器做上下位移,当探针直接插入孔内并确认是否有积液或残料在孔内时,因驱动器所默认的行程距离,使探针被驱动过程中,在接触积液、残料后,其所施予积液或残料的压力,可能会把积液或残料压扁,而导致判读结果时,将此待测工件的认定为良品,致使误判率提升。此外,若待测工件的针孔为梅花孔或六角孔等非圆形孔时,容易发生因探针的形状无法准确对位插进孔内,导致伤料或误判的问题。再者,当探针抽离针孔时,偶尔会因油渍或工件与探针之间的密合度高,而将工件带起,若此时承置该待测工件的转盘移动时,也会发生伤到工件或卡料的问题。
有鉴于对现有检测领域的探测工件时,因探针受到驱动器的驱动力及驱动行程距离,而使探针强行进入工件凹槽或孔洞时,将积液或残料等多余物料压扁,导致检测结果误判为良品,进而提升误判率;此外,探针探测精度不佳和抽离针孔时易将工件带起的缺陷,有必要提供一种新型工件探测结构,以克服上述问题。
发明内容
本新型的主要目的在于提供一种工件探测结构,可改善将待测工件孔内瑕疵料品压扁的问题。
本新型的另一目的在于提供一种工件探测结构,可改善检测过程因探针进入孔内角度不对应而导致伤料的问题。
本新型的另一目的在于提供一种工件探测结构,可改善探针抽离针孔时会将工件带起而导致伤料的问题。
为达成上述的目的及功效,本新型提供一种工件探测结构,其包含一机座;一探测装置,滑设于该机座上,该探测装置包含一探测件;以及一线性移动装置,其分离地与该探测装置搭接;该线性移动装置向上作动时推动该探测装置沿该机座向上位移,该线性移动装置向下作动时,该探测装置以自身重力沿该机座向下位移,进而使该探测装置进行往复式位移。
前述构成,其中该探测件的一端设有一探针结合座,该探针结合座用于结合一探针。
前述构成,其中该机座包含一滑轨,该探测装置包含一滑座,该滑座滑动地设于该滑轨上。
前述构成,其中该探测件可枢转地结合于该滑座,该探测件相对于该探针结合座的另一端设有一传动轮。
前述构成,其中该探测装置另包含一旋转连动装置,该旋转连动装置包含一主动轮及一传动件,该主动轮被一马达驱动而转动,该传动件将受到该主动轮的转动力传送到该探测件的该传动轮上,带动该探测件的该探针发生旋转。
前述构成,其中该探针结合座的水平延伸假想线作为一基准线L,该基准线L至一工件的顶部之间设有一距离H。
前述构成,其中该探测装置设有一第一顶抵件,该线性移动装置包含一第一顶推件,该第一顶推件搭接顶推该第一顶抵件。
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