[实用新型]一种测试操作台

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试系统技术领域，特别是指一种测试操作台。

背景技术

随着信息技术的迅猛发展，半导体集成电路被越来越广泛地应用于各个领域。随着技术的进步和产品质量要求的提高，集成电路的可靠性变得愈发重要。由于半导体器件结构精细、工艺复杂且生产流程繁琐，在生产过程中不可避免地存在一些潜在缺陷，使器件的可靠性水平不能满足设计要求，采用有缺陷的半导体器件会给电子产品带来巨大的质量和安全隐患，为了确保半导体器件的可靠性，半导体测试系统应运而生。

大规模混合电路测试系统，如：Catalyst200，由于其优秀的性能被广泛应用于半导体器件及混合电路的生产测试中，然而，由于这些测试系统的测试平台往往针对机械手操作进行了特殊设计，当使用者不可避免地采用这些测试系统对产品进行人工手动测试时非常困难，大大降低了测试效率。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提出一种测试操作台，针对现有测试系统进行便于使用者实现人工手动测试的改进，大大提高了测试效率。

基于上述目的本实用新型提供的一种测试操作台，包括：载物台、滑动装置、调节支架和基座；所述基座呈圆弧形，固定设置在测试系统测试头的边缘；所述调节支架固定设置在所述基座上方；所述载物台固定设置在所述滑动装置上，所述滑动装置与所述调节支架配合连接。

可选地，所述滑动装置和/或所述调节支架还包括第一定位装置。

可选地，所述滑动装置包括滑轮，所述调节支架包括滑轨，所述滑轮配合安装在所述滑轨中，并能够沿所述滑轨往复运动。

可选地，所述载物台四周设置凸缘。

可选地，所述基座上设置多个用于固定安装所述调节支架的配合部。

可选地，所述基座上设置导轨，所述调节支架配合安装在所述导轨中，并能够沿所述导轨往复运动。

可选地，所述基座和/或所述调节支架上设置有第二定位装置。

可选地，所述测试操作台成对地设置在测试头两侧边缘。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的一种测试操作台结构简单，操作简便，通过采用高度可调节的载物台的设计，大大提高了使用者采用测试系统进行人工手动测试的便捷性和测试效率，满足不同规格的测试元件的需求，提高了测试过程的流畅性和测试现场的整洁度；同时，采用多个测试操作台共同工作的方式，提高了多人共同进行人工测试的便捷性和测试效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例一种测试操作台结构示意图；

图2为本实用新型实施例一种测试操作台第一定位装置结构示意图；

图3为本实用新型实施例一种测试操作台滑动装置实施方式示意图；

图4为本实用新型实施例一种测试操作台基座配合部示意图；

图5为本实用新型实施例一种测试操作台基座导轨示意图；

图6为本实用新型实施例一种测试操作台设置方式示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

本实用新型实施例提供的一种测试操作台包括：载物台、滑动装置、调节支架和基座；所述基座呈圆弧形，固定设置在测试系统的测试头上；所述调节支架固定设置在所述基座上，所述载物台通过所述滑动装置固定设置在所述调节支架的内侧。

如图1所示，为本实用新型实施例一种测试操作台结构示意图，本实用新型实施例提供的一种测试操作台包括：载物台1、滑动装置2、调节支架3和基座4；基座4呈圆弧形，固定设置在测试系统的测试头5的边缘；调节支架3固定设置在基座4上方；载物台1固定设置在滑动装置2上，滑动装置2与调节支架3配合连接，使得载物台1设置在调节支架3的内侧，并能够随滑动装置2相对于调节支架3上下移动，从而实现载物台1的高度调节，满足不同条件下的测试需求；

可选地，滑动装置2和/或调节支架3还包括第一定位装置6，用于限制滑动装置2调节支架3的相对运动，实现载物台1和滑动装置2的定位。

具体地，如图2所示，第一定位装置6实施为：包括环形支架61和紧固栓62，环形支架61固定连接在滑动装置2两侧，并包围调节支架3；环形支架61上与载物台1相对的一侧设置紧固栓62，通过调节紧固栓62，可以实现滑动装置2和调节支架3之间相对运动的限制或释放，从而实现载物台1的定位。