[实用新型]一种工件显微缺陷检测系统

说明书

本实用新型公开了一种工件显微缺陷检测系统，包括显微镜、显微镜三向位置调整平台和万向托举支架，显微镜固定连接在显微镜三向位置调整平台上，显微镜三向位置调整平台实现显微镜X向、Y向、Z向三个方向的调整，三向位置调整平台下端固定连接在万向托举支架上；本实用新型用于工件现场金相检验中，通过万向托举支架，能够快速实现物镜垂直于金相点表面，可以明显提高金属部件金相检验效率，极大地提高金相检验质量，减轻工作人员的劳动强度；而且万向托举支架高度可调，采用这种结构在进行工件现场金相检验时，确保显微镜物镜在物镜保护罩内并离保护罩物端距离为1～2mm，调节长度可调万向托举支架的长度就能确保显微镜有效固定。

技术领域

本实用新型涉及一种工件显微缺陷检测系统，属于金相学技术领域。

背景技术

在现有的大型工件现场金相显微镜设备中，显微镜支架由两根磁性支柱和手动移动台组成，两根磁性同在一个平面内。当现场作金相检验时，对于平面形大型工件，金相显微镜很容易就能与工件表面垂直；但对于管道、管道弯头、和复杂表面大型工件，由于不可能将工件表面加工成足够大平面，因此很难使金相显微镜物镜与工件金相检验点平面相垂直，很难获得清晰的金相视场，严重影响金相组织观察和评定。因此，非平面大型工件的现场金相检验已成为金属材料理化检验工程师最畏惧的工作。

同时在现场作金相检验时，现有对移动台的调整、调焦都是手工进行，由于手工操作为对金相显微镜系统施加外力，金相显微镜及支架系统在外力的作用下会发生一定的垂直偏移和抖动，严重影响金相显微镜的成像质量；由于手工调焦步进不易掌握，容易造成焦距不足或过量，金相照片像质不够清晰。并且手工操作粗糙，不能对金相晶粒及细节进行测量，现场金相组织不易满足细微观察和精细测量的要求。

发明内容

本实用新型解决的技术问题是：提供一种工件显微缺陷检测系统，提高大型金属部件金相检验效率、检验质量，减轻工作人员的劳动强度、减少人为因素的干扰的大型工件现场金相显微镜任意曲面垂直数控支架，以解决现有技术中存在的问题。

本实用新型采取的技术方案为：一种工件显微缺陷检测系统，包括显微镜、显微镜三向位置调整平台和万向托举支架，显微镜固定连接在显微镜三向位置调整平台上，显微镜三向位置调整平台实现显微镜X向、Y向、Z向三个方向的调整，三向位置调整平台下端固定连接在万向托举支架上。

优选的，上述显微镜包括物镜，物镜安装在物镜座上，物镜座上端连接到镜筒，物镜座上设置有物镜微调装置。

优选的，上述物镜座上端可上下活动地嵌入到镜筒下端内，物镜微调装置包括限位导向螺钉，限位导向螺钉一端固定连接在物镜座上，另一端穿过镜筒上的竖直条形槽进行导向限位，限位导向螺钉外端镶嵌到在调焦螺母的内螺旋槽内，调焦螺母可活动地套接在镜筒下端，调焦螺母外柱面设置成齿形结构，与调焦螺母齿面相啮合的主动齿轮连接到电机输出轴，电机通过电机座固定连接在镜筒上，调焦螺母旋转能够带动限位导向螺钉上下移动。

优选的，上述调焦螺母下安装有限位调焦螺母，限位调焦螺母连接在调焦螺母连接处的螺纹上，可推动调焦螺母上下移动的行程。

优选的，上述物镜座设置有保护罩，保护罩上端通过内螺纹连接到调焦螺母连接处的螺纹上。

优选的，上述万向托举支架包括底座、主双节万向臂、副双节万向臂和仪器支撑座，主双节万向臂和副双节万向臂的下端均固定连接在底座上，上端均固定连接仪器支撑座上，主双节万向臂和副双节万向臂结构相同并能够锁紧定位。

优选的，上述主双节万向臂包括支杆，支杆上端通过球铰一连接到第一支撑杆，第一支撑杆上端通过铰链一铰接到第二支撑杆，第二支撑杆上端通过双头球铰连接到第三支撑杆，第三支撑杆上端通过铰链二铰接到第四支撑杆，第四支撑杆上端通过球铰二连接到与仪器支撑座底部连接的支撑台上，球铰一和球铰二以及双头球铰处均设置有紧固装置。