[实用新型]TFT与CF的连通监测一体化设备

说明书

技术领域

本实用新型属于液晶屏连接处理领域，尤其涉及一种TFT与CF的连通监测一体化设备。

背景技术

TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)上通常带有静电，惯常的处理手段为：通过银浆连接CF（color filter，彩膜）与TFT，将TFT上的静电引导至二者的连接处，然后通过静电消除手段消除。

生产实践中，通常通过人工操作在TFT与CF之间点上银浆来连接TFT与CF。

然而，手工操作通常不能精确将银浆点到预定位置，且银浆点滴的状况缺少精准检测，同时，手工操作效率低下，不利于产品的规模化生产。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种TFT与CF的连通监测一体化设备，旨在解决现有的人工连接TFT与CF，并人工监测TFT与CF的连接过程和连接状况存在的效率慢、精度低的技术问题。

本实用新型是这样实现的，TFT与CF的连通监测一体化设备，包括：检测TFT与CF的预设连接点，并发出定位信息的CCD定位系统；接收所述定位信息，并根据所述定位信息控制连通监测机构连接所述TFT与CF且同时监测所述TFT与CF的连接过程和连接状况的控制系统。

具体地，所述连通监测机构可沿X轴方向移动地设于机架上。

具体地，所述连通监测机构为两个。

具体地，所述连通监测机构包括用于点滴银浆以连接所述TFT与CF的点银浆机构。

具体地，所述连通监测机构包括用于监测所述点银浆机构的点银浆过程的CCD监视系统。

具体地，所述连通监测机构包括用于监测所述点银浆机构所点银浆状态的CCD检测系统。

具体地，所述点银浆机构由Z轴驱动模组驱动沿Z轴移动。

具体地，所述点银浆机构由Y轴驱动模组驱动沿Y轴移动。

具体地，所述CCD监视系统包括监视镜头，所述监视镜头斜对所述点银浆机构的针管头。

在本实用新型中，通过CCD定位系统精确定位TFT与CF的预设连接点，并将定位信息发送至控制系统，控制系统接收到定位信息后根据定位信息控制连通监测机构连接TFT与CF且同时监测TFT与CF的连接过程和连接状况，解决了现有的人工连接TFT与CF，并人工监测TFT与CF的连接过程和连接状况存在的效率慢、精度低的技术问题。

附图说明

图1 是本实用新型实施例提供的TFT与CF的连通监测一体化设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

为了解决现有的人工连接TFT与CF，并人工监测TFT与CF的连接过程和连接状况存在的效率慢、精度低的技术问题，本实用新型实施例提供了一种TFT与CF的连通监测一体化设备，详述如下：

图1示出了本实用新型实施例提供的一种TFT与CF的连通监测一体化设备，详述如下：

一种TFT与CF的连通监测一体化设备，包括检测TFT与CF的预设连接点，并发出定位信息的CCD定位系统（未示出）；接收定位信息，并根据定位信息控制连通监测机构2连接TFT与CF且同时监测TFT与CF的连接过程和连接状况的控制系统（未示出）。

需要说明的是，TFT与CF的预设连接点的尺寸极小，需要借助CCD定位系统（未示出）才能精确定位，精确定位后有利于控制系统（未示出）控制连通监测机构2来精准连接。

CCD定位系统（未示出）设置于连通监测机构2下方的放置TFT与CF的载台（未示出）上，主要用于采集TFT与CF的预设连接点的图像位置信息，然后将采集到的图像位置信息转换成数字位置信息传送至控制系统（未示出）。其中，CCD定位系统（未示出）中的相机可以用来采集图像位置信息。

控制系统（未示出）可以是PLC控制系统，也可以是其他能够控制连通监测机构2实现连接监测TFT与CF的控制系统。

连通监测机构2的功能的一方面在于将TFT与CF的预设连接点连接，实现TFT与CF的导通，从而使得TFT中的静电能够得以转移，以便后续的静电消除装置的处理。

连通监测机构2的功能的另一方面在于监测TFT与CF的连接过程和连接状况。

连接过程可以是指连通监测机构2在TFT与CF的预设连接点将二者连接起来的整个工作过程，连接状况可以是指TFT与CF连接后的的连接点的连接形状、大小以及质量等状况。