[实用新型]信号发生装置

说明书

技术领域

本实用新型属于电子测试技术领域，更具体地说，是涉及一种信号发生装置。

背景技术

在一些模拟集成电路芯片的实际测试生产过程中，常需要测试设备提供一些激励波形信号，用于对芯片IC(Integrated Circuit，集成电路)功能的测试验证。这对测试设备提出了较高的要求，必须使用具有此类功能的通用测试设备才能实现。而在实际的芯片测试过程中，使用通用测试设备进行测试不可避免地存在一些问题：

1、通用测试设备体积大，价格贵，成本高。

2、通用测试设备使用较为复杂，测试周期长。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种信号发生装置，旨在解决目前使用具备信号发生功能的通用测试仪器造成的测试成本高，测试周期长的问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：提供一种信号发生装置，包括控制模块、通信模块、波形发生模块和模式选择模块；所述控制模块分别与所述通信模块、所述波形发生模块及所述模式选择模块相连；

所述模式选择模块向所述控制模块传输模式选择信号；

所述控制模块根据所述选择信号向所述通信模块传输通信控制信号；

所述通信模块根据所述通信控制信号与上位机进行通信；

所述控制模块还向所述波形发生模块传输波形控制信号；

所述波形发生模块根据所述波形控制信号生成并输出波形信号。

进一步地，所述通信模块包括USB通信单元和RS232通信单元。

进一步地，所述USB通信单元采用的芯片为PL2303芯片。

进一步地，所述模式选择模块包括电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4；

所述电阻R1的第二端作为所述模式选择模块的第一输出端，所述电阻R1的第二端与所述电阻R2的第一端相连；

所述电阻R3的第二端作为所述模式选择模块的第二输出端，所述电阻R3的第二端与所述电阻R4的第一端相连；

所述电阻R1的第一端和所述电阻R3的第一端均与电源电压相接；所述电阻R2的第二端和所述电阻R4的第二端均接地；

所述电阻R1、所述电阻R2、所述电阻R3和所述电阻R4中均能从所述模式选择模块中拆除或更换。

进一步地，所述波形发生模块包括DDS单元、滤波单元和电位器单元；

所述滤波单元的输入端和输出端均与所述DDS单元相连，所述电位器单元与所述DDS单元相连；

所述滤波单元对所述DDS单元生成的正弦信号进行滤波，并将滤波后的正弦信号返回给所述DDS单元；

所述电位器单元输出电压信号作为所述DDS单元的比较器输入电压。

进一步地，所述滤波单元包括电感L1、电感L2、电感L3、电容C1、电容C2、电容C3、电容C4、电容C5、电容C6、电容C7、电阻R5和电阻R6；

所述电感L1的第一端作为所述滤波单元的输入端；所述电感L1的第一端分别与所述电阻R5的第一端、所述电容C1的第一端及所述电容C2的第一端相连；所述电感L1的第二端分别与所述电感L2的第一端、所述电容C2的第二端、所述电容C3的第一端及所述电容C4的第一端相连；

所述电感L2的第二端分别与所述电感L3的第一端、所述电容C4的第二端、所述电容C5的第一端及所述电容C6的第一端相连；

所述电感L3的第二端作为所述滤波单元的输出端；所述电感L3的第二端分别与所述电容C6的第二端、所述电容C7的第一端及所述电阻R6的第一端相连；

所述电阻R5的第二端、所述电容C1的第二端、所述电容C3的第二端、所述电容C5的第二端、所述电容C7的第二端和所述电阻R6的第二端均接地。

进一步地，所述DDS单元采用的芯片为AD9850芯片，所述DDS单元还包括电阻R7；所述AD9850芯片的IOUT引脚与所述滤波单元的输入端相连；所述AD9850芯片的VINP引脚与所述电阻R7的第一端相连，所述电阻R7的第二端与所述滤波单元的输出端相连。

进一步地，所述电位器单元采用的芯片为X9C103芯片，所述电位器单元还包括电容C8；所述X9C103芯片的Rw引脚分别与所述AD9850芯片的VINN引脚和所述电容C8的第一端相连；所述电容C8的第二端接地。

进一步地，所述控制模块采用的芯片为EPM1270T144C5芯片。