[实用新型]具备探边能力的过钻铤方位阵列侧向测井仪有效

专利信息
申请号: 201720914729.9 申请日: 2017-07-26
公开(公告)号: CN207017994U 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: 张中庆 申请(专利权)人: 杭州迅美科技有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/026
代理公司: 杭州宇信知识产权代理事务所(普通合伙)33231 代理人: 张宇娟
地址: 310012 浙江省杭州市西*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 具备 能力 方位 阵列 侧向 测井
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种过钻铤方位阵列侧向测井仪,以及水平井环境下仪器探边能力测量方法。

背景技术

目前在国内外广泛使用的方位侧向测井仪HALS(SLB)是在双侧向测井仪结构基础上,中心增加方位电极阵列,由软件合成输出具有不同探测深度的标准深、浅侧向测井曲线,同时仪器中心的无源方位阵列可提供深浅模式的地层电阻率成像。但该仪器只能提供两条探测深度的测量曲线,不足以清晰反映地层的侵入剖面。阵列侧向仪器的出现,可以测量多条不同探测深度的电阻率曲线,且仪器纵向分辨率更高,故该仪器推出后被大规模推广应用。然而对于环周向介质不均匀的地层,阵列侧向测井仪无法区别,必须与其他仪器如电成像仪器联合测井,才能精确的反映地层的综合信息。

在水平井和大斜度井环境下,如果没有专门的传送装备,用电缆测井仪通常无法进行有效测井,不但增加成本,还会延迟作业时间,在某些情况下还会导致作业公司不得不放弃采集岩石物理数据。另外在水平井和大斜度井环境下常面临上部为油气层下部为底水层的油气储层,在进行仪器射孔作业时,如果无法确定底水层处于仪器的哪个方位以及仪器距离地层界面的距离,会导致射穿底水层的风险,导致底水淹没储集层。

实用新型内容

本实用新型解决的技术问题在于提供提出一种具备探边能力的过钻铤方位阵列侧向测井仪,可通过一次测量可同时获得四种不同探测深度的测量曲线和电阻率成像图,实现电阻率测量和成像测量两种功能,且特殊的电极结构设计使得仪器能够穿过钻铤,减少了仪器下井的次数,并在水平井环境下具备探测地层边界的功能。

为了解决上述问题,本实用新型采用了如下技术方案:

一种具备探边能力的过钻铤方位阵列侧向测井仪,包括一方位阵列侧向电极系结构及测量电路,所述电极系结构包括主电极A0,以及对称于主电极A0设置的5对屏蔽回流电极和7对监督测量电极,其中,所述主电极A0包括8个周向间隔45度设置的方位电极A01-A08,所述监督测量电极设于主电极A0及靠近主电极A0的3对屏蔽回流电极两端,每对屏蔽回流电极用导线连接保持等电位,每对监督测量电极用导线连接保持等电位,各异名电极之间通过绝缘体隔离;所述测量电路用于通过各个电极发射及接受电流信号。

进一步的,靠近主电极A0的前4对屏蔽回流电极从内向外长度逐渐增加,第5对屏蔽回流电极位于电极系结构两端。

进一步的,还包括一钻铤,所述钻铤的内径大于所述电极系结构的外径,所述电极系结构设有用于安装至钻铤的连接部。

本实用新型的过钻铤方位阵列侧向仪,其电极系能够通过钻铤,在起钻的过程中完成已钻地层的测量,减少了作业下井的次数,缩短了作业时间,降低了钻井成本。其方位电极系结构包括8个周向间隔45度的方位电极A01-A08,通过不同的电流聚焦模式,可实现四种不同探测深度的测量曲线和方位成像信息,为油气储层评价和判断地层方位奠定了基础。另外,其独特A0电极结构设计使得该仪器在水平井环境下具备一定的探测地层边界的功能,最大地层界面探测距离可达到1米,降低了射穿底水层的风险,具有重要实际应用价值。

附图说明

图1本实用新型的测井仪的方位阵列侧向电极系结构示意图。

图2为测井方法示意图,包括四个主要操作步骤。

图3为水平井三层地层模型示意图,其中Rs表示上下层围岩电阻率,Rt表示目的层电阻率,Rm表示井眼流体泥浆电阻率,DTB表示仪器距离上地层边界的距离,简称层边界距。

图4为水平井三层地层下仪器常规测量响应示意图,其中Ra1,Ra2,Ra3,Ra4表示四种不同电流聚焦模式测量响应曲线。

图5为水平井三层地层下仪器方位成像测量响应示意图,其中RA1,RA2,RA3,RA4表示四种不同电流聚焦模式测量响应地层成像图。

具体实施方式

为了进一步理解本实用新型,下面结合实施例对本实用新型优选实施方案进行描述,但是应当理解,这些描述只是为进一步说明本实用新型的特征和优点,而不是对本实用新型权利要求的限制。

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