[实用新型]一种DFB激光器测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及激光器测试领域，尤其涉及一种DFB激光器测试装置。

背景技术

半导体激光器具有体积小、重量轻、寿命长、易于集成等显著特点，它的应用范围随着光通信产业的发展而更加广泛，DFB-LD（分布反馈半导体激光器）内藏光栅结构，在单色型和稳定性方面优于一般的LD（半导体激光器），可以实现动态单模，是实现高速大容量通信的基础。对于折射率耦合型DFB-LD来说由于光栅制作的工艺质量以及由于端面解离而产生的随机相位导致其成品率低，容易产生多模激射，在光谱上表现从单模到多模的跳变，在器件的电流-电压-光强曲线（LIV）上表现为Kink跳变点，因此需要在测试上将不良品剔除。

目前常规外购的测试台，价格昂贵，同时多数只适合室温测试，无法实现高温测试。

发明内容

本实用新型的目的是针对以上不足之处，提供了一种DFB激光器测试装置，实现高温下进行激光器的性能测试。

本实用新型解决技术问题所采用的方案是：一种DFB激光器测试装置，包括一维移动台、设置于一维移动台上的二维调节台以及设置于二维调节台上的光电探测器和光纤透镜；所述二维调节台旁侧正对设有一散热台，所述散热台上安装有半导体制冷器，所述半导体制冷器的热端设有加热铜块，一个以上的DFB激光器沿着一维移动台的移动方向间隔设置于加热铜块上，并且正对光电探测器设置；还包括设置于一维移动台旁侧的光谱仪、电流源、LIV测试仪、PC机， 所述电流源连接所述半导体制冷器和DFB激光器，所述光纤透镜与光谱仪连接，所述光电探测器与一LIV测试仪连接，所述LIV测试仪与PC机连接。

进一步的，所述加热铜块上设有若干个用于夹持DFB激光器的夹持卡块，所述夹持卡块与DFB激光器一一对应设置。

进一步的，所述光纤透镜和光电探测器分别经一夹持件固定于所述二维调节台上。

进一步的，所述一维移动台为横向丝杆机构，所述二维调节台包括纵向丝杆机构和竖向丝杆机构，所述纵向丝杆机构设置于横向设置机构的滑块上，所述竖向丝杆机构设置于纵向丝杆机构的滑块上，所述光纤透镜和光电探测器设置于竖向丝杆机构的滑块上。

与现有技术相比，本实用新型有以下有益效果：本实用新型采用自主搭建的测试装置，实现DFB激光器室温和高温下LIV 曲线和光谱特性的自动测试，搭建测试系统价格与外购相比成本低，能有效解决DFB的室温和高温测试问题。

附图说明

下面结合附图对本实用新型专利进一步说明。

图1为本实用新型实施例的测试装置的结构示意图。

图2为本实用新型实施例的测试装置的主视图。

图中：1-一维移动台；2-二维调节台；3-光电探测器；4-光纤透镜；5-散热台；6-半导体制冷器；7-DFB激光器；8-加热铜块；9-光谱仪；10-LIV测试仪；11-PC机。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进一步说明。

如图1～2所示，本实施例的一种DFB激光器7测试装置，包括一维移动台1、设置于一维移动台1上的二维调节台2以及设置于二维调节台2上的光电探测器3和光纤透镜4；所述二维调节台2旁侧正对设有一散热台5，所述散热台5上安装有半导体制冷器6，所述半导体制冷器6的热端设有加热铜块，一个以上的DFB激光器7沿着一维移动台1的移动方向间隔设置于加热铜块上，并且正对光电探测器3设置；还包括设置于一维移动台1旁侧的光谱仪8、电流源、LIV测试仪9和PC机10， 所述电流源连接所述半导体制冷器6和DFB激光器7，所述光纤透镜4与光谱仪8连接，所述光电探测器3与一LIV测试仪9连接，所述LIV测试仪9与PC机10连接。

从上述可知，本实用新型的有益效果在于：电流源输出电流，DFB激光器7发出光，由光电探测器3接收对应DFB激光器7发出的光电流，光电探测器3将接收到的光电流传输至LIV测试仪9，输出LIV曲线，可以在PC机10中显示及分析；同时通过一维移动台1，切换光纤透镜4接收光信号，传输至光谱仪8中，获取对应DFB的光谱；通过调整一维移动台1和二维调节台2一侧对DFB激光器7进行测试；通过电流源输出电流控制半导体制冷器6进行加热，通过加热铜块进行传热，分别测试每个DFB激光器7在常温和不同温度下的LIV曲线和光谱。

在本实施例中，所述加热铜块上设有若干个用于夹持DFB激光器7的夹持卡块，所述夹持卡块与DFB激光器7一一对应设置。通过夹持卡块分别夹持每个DFB激光器7，可以实现多个DFB激光器7一起测量，提高测量的效率。