[实用新型]一种高性能薄膜晶体管有效
申请号: | 201720913631.1 | 申请日: | 2017-07-26 |
公开(公告)号: | CN207517697U | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 宁洪龙;胡诗犇;姚日晖;卢宽宽;刘贤哲;郑泽科;章红科;徐苗;王磊;彭俊彪 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/786 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 郭炜绵 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 绝缘层 本实用新型 衬底 源层 铟层 高性能薄膜 钝化层 漏电极 源电极 晶体管 载流子 加速载流子 源/漏电极 低电阻率 高迁移率 高稳定性 电阻率 迁移率 铜电极 最外层 包覆 阻抗 制备 延迟 传输 | ||
1.一种高性能薄膜晶体管,特征在于:其底部是衬底,衬底上设置一栅极,栅极的四周有一绝缘层包覆隔绝,绝缘层之上是有源层,有源层之上是富铟层;该薄膜晶体管的最外层是钝化层,钝化层与富铟层、有源层、绝缘层、衬底围成的区域分别是含铜的源电极和漏电极;
所述源电极和漏电极的沟道宽度为0.1-1000μm,长度为0.1-1000μm。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述栅极的厚度为50-10000nm。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述绝缘层的厚度为2-1000nm。
4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述有源层的厚度为5-200nm。
5.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于:所述富铟层的厚度为1-20nm。
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