[实用新型]一种简易多性状X射线衍射仪样品台

说明书

技术领域

本实用新型涉及XRD衍射仪测试领域，特别是一种简易多性状X射线衍射仪样品台。

背景技术

X射线衍射仪是利用衍射原理，对物质进行物相分析，定性分析，定量分析。随着X射线衍射技术的不断发展和进步，测试的样品的种类及形式也有了很大的扩展。X射线衍射仪现已被广泛应用于冶金、化工、环保、能源、生物医药工业和半导体等行业，已成为许多研究机构及工厂实验室的必备仪器。

现有的XRD衍射仪所配用的样品台或已经发明的XRD样品台均是独立测试一种性状的样品，如只测试粉末材料(XRD衍射仪所配的样品台)，或只测试片状材料，例如申请号为CN 201420154608.5的中国专利，或只测试块状材料，例如申请号为CN 201220675108.7的中国专利。对于粉末材料测试来讲，XRD衍射仪所配的通用样品台，在进行测试时所需要的样品量较大，对于少量样品测试起来需要相应的其它材料的填充引入，使测试结果中出现背地或杂峰，影响物相分析，难以去除；再者，通用样品台的凹槽深度不可控，无法用于固体块状、片状样品，不规则样品及不宜研磨的样品的测试；此外，在样品测试完成后，只能从样品台中手动抠出样品，及其不便。

实用新型内容

基于此，本实用新型的目的在于，提供一种简易多性状X射线衍射仪样品台，所述的简易多性状X射线衍射仪样品台，其置样空间的深度可连续调节，适用于测试粉末状样品和不同厚度的片状或块状的样品，结构简单成本低，适合推广。

一种简易多性状X射线衍射仪样品台，包括支撑台、置样台和螺纹杆，所述支撑台上设置有一样品槽和一螺纹孔，所述样品槽和螺纹孔连通，所述置样台的形状与所述样品槽相匹配，所述置样台位于所述样品槽中，所述螺纹杆与所述螺纹孔相匹配，所述螺纹杆的一端旋转穿过所述螺纹孔并与样品槽中的置样台固定连接，所述螺纹杆的另一端则位于所述支撑台外，以控制置样台在样品槽中的升降。

本实用新型所述简易多性状X射线衍射仪样品台，通过旋转螺纹杆来调节与螺纹杆相连的置样台在样品槽的升降，使得置样台与样品槽形成的置样空间增大或减小，以适用于粉末和不同厚度的片状乃至块状的样品，简单实用。

进一步地，还包括旋转底托，所述旋转底托设置在所述支撑台的底端并与所述螺纹杆的一端固定连接，所述旋转底托的尺寸大于所述螺纹孔。将旋转的作用力作用在旋转底托上，使得螺纹杆的旋转更容易。

进一步地，所述旋转底托的侧面设置有竖直凸条纹。竖直凸条纹可增大旋转底托与作用点之间的摩擦，可方便调节置样台的升降。

进一步地，还包括限位螺杆，所述支撑台的侧壁上开设有连通所述螺纹孔的限位螺孔，所述限位螺杆的一端螺旋穿进所限位螺孔，所述限位螺杆的另一端位于所述支撑台的侧壁外。限位螺杆的设置，对螺纹杆起到锁定的作用，有效防止螺纹杆发生滑动或位移，对置样台进行进一步的限位和固定。

进一步地，所述限位螺杆位于所述支撑台的侧壁外的一端连接有一旋转把柄。旋转把柄的设置，方便将限位螺杆旋进或旋出。

进一步地，所述支撑台呈长方体状，所述支撑台的台面尺寸为50mm×50mm，高度h₁＝14mm。

进一步地，所述样品槽呈圆筒状，所述样品槽的直径Φ₁＝12mm，深度d＝10mm。

进一步地，所述置样台为圆饼状，所述置样台的直径Φ₂＝12mm，厚度h₂＝2mm。

进一步地，所述螺纹孔的孔径为Φ₃＝5mm，所述螺纹杆的直径为Φ₄＝5mm，所述螺纹杆的长度l＝13mm。

进一步地，所述旋转底托呈圆饼状，所述旋转底托的直径Φ₅＝50mm，厚度h₃＝3mm。

为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本实用新型。

附图说明

图1为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的主视图；

图2为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的俯视图；

图3为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的沿图2的轴线AA`的剖面图。

具体实施方式

请参照图1-3，分别为本实用新型简易多性状X射线衍射仪样品台的主视图、俯视图和简易多性状X射线衍射仪样品台的沿图2的轴线AA`的剖面图。