[实用新型]扇出型系统级封装结构有效

专利信息
申请号: 201720806935.8 申请日: 2017-07-05
公开(公告)号: CN207250506U 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 陈彦亨;林正忠 申请(专利权)人: 中芯长电半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/552;H01L21/50
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙)31219 代理人: 余明伟
地址: 214437 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 扇出型 系统 封装 结构
【权利要求书】:

1.一种扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述扇出型系统级封装结构包括:

重新布线层;

屏蔽框,位于所述重新布线层的上表面,于所述重新布线层的上表面分割形成天线设置区域及若干个芯片键合区域;

半导体芯片,键合于对应于所述芯片键合区域的重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;

天线控制芯片,键合于对应于所述天线设置区域的重新布线层的上表面,且与所述重新布线层电连接;

塑封层,填满所述屏蔽框、所述半导体芯片及所述天线控制芯片之间的间隙,并将所述屏蔽框、所述半导体芯片及所述天线控制芯片塑封;所述屏蔽框的上表面与所述塑封层的上表面相平齐;

天线结构,位于对应于所述天线设置区域的塑封层内及塑封层的上表面;

屏蔽盖,位于所述塑封层的上表面及所述屏蔽框的上表面,且完全覆盖所述芯片键合区域,以将所述半导体芯片封盖于所述屏蔽框内;

焊料凸块,位于所述重新布线层的下表面,且与所述重新布线层电连接。

2.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述重新布线层包括:

电介质层;

金属线层,位于所述电介质层内,且所述金属线层的上表面与所述电介质层的上表面相平齐,所述金属线层的下表面与所述电介质层的下表面相平齐。

3.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述重新布线层包括:

电介质层;

金属叠层结构,位于所述电介质层内;所述金属叠层结构包括多层间隔排布的金属线层及金属插塞,所述金属插塞位于相邻两层所述金属线层之间,以将相邻两层所述金属线层电连接。

4.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述屏蔽框为金属屏蔽框,所述屏蔽盖为金属屏蔽盖。

5.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述塑封层包括聚酰亚胺层、硅胶层、环氧树脂层、可固化的聚合物基材料层或可固化的树脂基材料层。

6.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述天线结构包括:

连接柱,位于对应于所述天线设置区域的塑封层内,所述连接柱的底部与所述重新布线层电连接;

天线,位于对应于所述天线设置区域的塑封层的上表面,所述天线经由所述连接柱与所述重新布线层电连接。

7.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述焊料凸块包括:

金属柱,位于所述重新布线层的下表面,且与所述重新布线层电连接;

焊球,位于所述金属柱的下表面。

8.根据权利要求1所述的扇出型系统级封装结构,其特征在于,所述焊料凸块为焊球。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯长电半导体(江阴)有限公司,未经中芯长电半导体(江阴)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720806935.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top