[实用新型]一种探针接触测试系统的探针组件有效
申请号: | 201720804468.5 | 申请日: | 2017-07-04 |
公开(公告)号: | CN207051321U | 公开(公告)日: | 2018-02-27 |
发明(设计)人: | 杨波;刘振辉;韦日文;李景均 | 申请(专利权)人: | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 探针 接触 测试 系统 组件 | ||
1.一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,包括:
若干探针(1),所述探针(1)包括:针杆(11),设于所述针杆(11)一端的、与待探测件接触以进行检测的探测部(12),以及,设于所述针杆(11)的相对于所述探测部(12)的一端的、与所述针杆(11)之间弯曲设置的弯曲部(13);
设有供所述弯曲部(13)插入的插孔(21)的、外侧面与所述针杆(11)相抵接的、连接有测试电源的导电杆(2);以及,
与所述导电杆(2)滑动式装配的、内侧面可与所述针杆(11)相抵接的、用于与所述导电杆(2)夹持固定所述针杆(11)的滑移件(3)。
2.根据权利要求1所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述滑移件(3)包括:
供部分所述导电杆(2)伸出的滑套(31),以及,
固定于所述滑套(31)的、用于提供弹性回复力以将所述针杆(11)压紧在所述导电杆(2)的弹性件(32)。
3.根据权利要求2所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述弹性件(32)包括:
与所述滑套(31)的内侧面之间形成弹性缓冲间隙的、可抵接于所述针杆(11)的抵接部(321),以及,
分设于所述抵接部(321)两端、与所述抵接部(321)形成以供所述滑套(31)卡嵌的卡槽结构的弯折边(322)。
4.根据权利要求2所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述弹性件(32)包括:
设有抵接于所述针杆(11)的曲弧面(3231)的活动块(323),以及,
若干设于所述活动块(323)和所述滑套(31)的内侧面之间、用于提供驱使所述活动块(323)趋向所述针杆(11)运动的弹性回复力的弹簧(324)。
5.根据权利要求4所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述滑套(31)的内侧面设有供所述弹簧(324)部分容置并在所述弹簧(324)伸缩时起导向作用的容置槽(311)。
6.根据权利要求2所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述弯曲部(13)部分伸出所述插孔(21),所述滑套(31)设有供所述伸出部分通过的缺口(312)。
7.根据权利要求1所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述导电杆(2)的相对于所述探测部(12)的一端设有用于固定的扩面部(22),所述扩面部(22)设有若干螺纹孔(221),所述螺纹孔(221)用于装配连接有测试电源的螺钉。
8.根据权利要求1所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述导电杆(2)设有与所述插孔(21)连通的、供所述针杆(11)嵌入的凹槽(23)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市矽电半导体设备有限公司,未经深圳市矽电半导体设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720804468.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种钳形接地电阻测试装置
- 下一篇:电弧焊焊接方法及电弧焊焊接设备