[实用新型]一种探针接触测试系统的探针组件有效

专利信息
申请号: 201720804468.5 申请日: 2017-07-04
公开(公告)号: CN207051321U 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 杨波;刘振辉;韦日文;李景均 申请(专利权)人: 深圳市矽电半导体设备有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 探针 接触 测试 系统 组件
【权利要求书】:

1.一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,包括:

若干探针(1),所述探针(1)包括:针杆(11),设于所述针杆(11)一端的、与待探测件接触以进行检测的探测部(12),以及,设于所述针杆(11)的相对于所述探测部(12)的一端的、与所述针杆(11)之间弯曲设置的弯曲部(13);

设有供所述弯曲部(13)插入的插孔(21)的、外侧面与所述针杆(11)相抵接的、连接有测试电源的导电杆(2);以及,

与所述导电杆(2)滑动式装配的、内侧面可与所述针杆(11)相抵接的、用于与所述导电杆(2)夹持固定所述针杆(11)的滑移件(3)。

2.根据权利要求1所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述滑移件(3)包括:

供部分所述导电杆(2)伸出的滑套(31),以及,

固定于所述滑套(31)的、用于提供弹性回复力以将所述针杆(11)压紧在所述导电杆(2)的弹性件(32)。

3.根据权利要求2所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述弹性件(32)包括:

与所述滑套(31)的内侧面之间形成弹性缓冲间隙的、可抵接于所述针杆(11)的抵接部(321),以及,

分设于所述抵接部(321)两端、与所述抵接部(321)形成以供所述滑套(31)卡嵌的卡槽结构的弯折边(322)。

4.根据权利要求2所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述弹性件(32)包括:

设有抵接于所述针杆(11)的曲弧面(3231)的活动块(323),以及,

若干设于所述活动块(323)和所述滑套(31)的内侧面之间、用于提供驱使所述活动块(323)趋向所述针杆(11)运动的弹性回复力的弹簧(324)。

5.根据权利要求4所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述滑套(31)的内侧面设有供所述弹簧(324)部分容置并在所述弹簧(324)伸缩时起导向作用的容置槽(311)。

6.根据权利要求2所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述弯曲部(13)部分伸出所述插孔(21),所述滑套(31)设有供所述伸出部分通过的缺口(312)。

7.根据权利要求1所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述导电杆(2)的相对于所述探测部(12)的一端设有用于固定的扩面部(22),所述扩面部(22)设有若干螺纹孔(221),所述螺纹孔(221)用于装配连接有测试电源的螺钉。

8.根据权利要求1所述的一种探针接触测试系统的探针组件,其特征在于,所述导电杆(2)设有与所述插孔(21)连通的、供所述针杆(11)嵌入的凹槽(23)。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市矽电半导体设备有限公司,未经深圳市矽电半导体设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720804468.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top