[实用新型]一种发光器件测试系统有效

专利信息
申请号: 201720803925.9 申请日: 2017-07-04
公开(公告)号: CN207050958U 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 杨波;刘振辉;韦日文;李景均 申请(专利权)人: 深圳市矽电半导体设备有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518172 广东省深圳市龙岗区龙城*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光 器件 测试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及发光器件检测领域,特别涉及一种发光器件测试系统。

背景技术

有一种二极管发光器件,电极面与发光面相对。在发光器件测试系统中,通过导电物体接触电极面的P极和N极,点亮发光器件,对其光参数进行检测。发光器件测试系统中的载片台用于承载被测发光器件,光参数测试装置用于收集被测发光器件导通时发光面的光参数,在光参数测试装置上升至靠近载片台中被测发光器件以进行测试的位置时,由于光参数测试装置只做竖向移动,水平方向不移动,而当载片台在水平方向移动以调节被测发光器件的位置时,容易发生光参数测试装置与载片台异常碰撞的情况,造成光参数测试装置的损伤。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种发光器件测试系统,具有能够保护的光参数测试装置的优点。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:一种发光器件测试系统,包括:机座;水平滑移连接于所述机座上、用于承载被测发光器件的载片台;设于所述机座上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的光参数测试装置;以及,用于对所述光参数测试装置进行保护的导电保护结构。

通过采用上述技术方案,在发光器件测试系统的测试过程中,光参数测试装置接近载片台的位置以进行对被测发光器件的光参数进行收集并测试,当载片台在水平方向移动以调整被测发光器件的位置时,导电保护结构能够有效地对光参数测试装置进行保护。

本实用新型的进一步设置,所述载片台包括:用于承载发光器件的承载台;设于承载台上、用于驱动承载台旋转以实现发光器件在圆周方向调整位置的旋转机构;设于承载台下、用于驱动承载台纵向移动以靠近或远离测试位置的第一传输机构;以及,设于第一传输机构下、用于驱动第一传输机构及承载台横向移动以靠近或远离测试位置的第二传输机构。

通过采用上述技术方案,第一传输机构可驱动承载台纵向移动以靠近或远离测试位置,第二传输机构可驱动第一传输机构及承载台横向移动以靠近或远离测试位置,旋转机构用于驱动承载台旋转以实现发光器件在圆周方向调整,发光器件测试系统进行测试时,将被测发光器件置于承载台上,可以很方便地通过第一传输机构及第二传输机构将承载台向测试位置移动并进行调整至测试位置,然后通过旋转机构对承载台的位置进行进一步的调整,使承载台准确地到达测试位置以使测量数据较为准确;测试完后,通过第一传输机构及第二传输机构将承载台退出,以便取下被测发光器件;从而载片台具有在输送和调节过程中较为方便的优点。

本实用新型的进一步设置,所述旋转机构包括:设于所述安装座上的电机;以及,设于所述安装座上、受所述电机驱动以带动所述承载台旋转的传动件;所述第一传输机构包括:滑移座;若干设于所述滑移座上、供所述承载台滑移的第一导轨;以及,驱动所述承载台在所述第一导轨上滑移的第一驱动件;所述第二传输机构包括:固定座,所述固定座上设有供所述光参数测试装置容置的让位缺口;若干设于所述固定座上、供所述滑移座滑移的第二导轨;以及,驱动所述滑移座在所述第二导轨上滑移的第二驱动件。

通过采用上述技术方案,在进行对承载台圆周方向调整时,安装座上的电机转动,受电机驱动的传动件带动承载台旋转,以使承载台准确地到达测试位置;第一驱动件驱动承载台在滑移座上的第一导轨上滑移,以使承载台靠近或远离测试位置,便于承载台的输送和调节;承载台通过第一导轨滑移,使承载台在输送和调节的过程更为稳定;第二驱动件驱动滑移座在固定座上的第二导轨上滑移,带动滑移座上的承载台移动,以使承载台靠近或远离测试位置,便于承载台的输送和调节;滑移座通过第二导轨滑移,使滑移座和承载台在输送和调节的过程更为稳定。

本实用新型的进一步设置,所述第一驱动件及第二驱动件均为丝杠。

通过采用上述技术方案,丝杠具有传动效率高,定位较为精准的优点,从而在第一传输机构及第二传输机构对承载台进行传输和调节的过程中,较为精准和稳定。

本实用新型的进一步设置,所述光参数测试装置包括:设于机座上、用于对被测发光器件的光参数进行收集并测试的收光组件;以及,用于驱动所述收光组件靠近所述载片台中被测发光器件的位置以进行光参数收集或远离所述载片台以便所述载片台移动至退片位置以取下被测元器件的驱动机构。

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