[实用新型]手术灯光学参数测量装置有效

专利信息
申请号: 201720791303.9 申请日: 2017-06-30
公开(公告)号: CN206989862U 公开(公告)日: 2018-02-09
发明(设计)人: 肖禧成;郑军 申请(专利权)人: 南京迈瑞生物医疗电子有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08;G01J3/00;G01M11/04
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 代理人: 何平
地址: 211100 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 手术 灯光 参数 测量 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及医疗器械设备领域,特别涉及一种手术灯光学参数测量装置。

背景技术

无影灯和诊断用照明灯等医疗用灯(以下统称手术灯)的光学参数测量是手术灯产品验证以及产品注册检测的必测项。在现有手术灯的一些光学参数测量技术中,如中心照度测量、光斑直径测量、光斑分布直径测量、无影率测量等,一般按照YY0627或者IEC60601-2-41手术灯专业标准中描述的通用试验要求测量。这些专业标准中只定义了试验环境、单个试验测量工具的尺寸、技术要求,以及试验项的通用示意简图,如定义双遮板无影率测量时,示意两个直径为210mm的无光黑圆盘为挡板,要求两挡板中心距260mm,挡板距光度计表面高度为600mm,对实际测量操作时采用何种试验工具、怎样保证上述要求并未做限定说明。

通常利用现有的一些光学参数测量装置进行中心照度测量、光斑直径测量、光斑分布直径测量、无影率测量时,只基于专业标准的通用试验要求达到测量目的,而忽略了测量装置的有效性和易操作性,有的测量装置工装简陋、操作不便,致使试验效率低,甚至带来较大的测量误差。

实用新型内容

基于此,本实用新型旨在提供一种手术灯光学参数测量装置,既能够满足专业标准中的试验要求,同时又操作方便兼容多项光学参数测量。

一种手术灯光学参数测量装置,用于对手术灯的光学参数进行测量,包括:

无光刻度盘,所述无光刻度盘上设有刻度,所述无光刻度盘上用于放置测量照度的光度计;以及

遮光板,包括承重座、挡板和连接承重座和挡板的连杆,所述承重座选择 性放置在无光刻度盘上,所述承重座支撑所述挡板使所述挡板位于无光刻度盘的上方和待测量的手术灯的下方,所述挡板用于部分遮挡手术灯向无光刻度盘发出的光线。

在其中一个实施例中,还包括支撑座以及灯体固定架,所述支撑座包括支撑板,所述无光刻度盘设置在支撑板上,所述灯体固定架用于放置所述手术灯,所述灯体固定架设置在支撑板上。

在其中一个实施例中,所述灯体固定架包括竖立在支撑板上的杆件,以及与杆件末端连接的固定板,所述杆件围绕所述无光刻度盘,所述固定板上设置供手术灯的光线通过的窗口。

在其中一个实施例中,所述无光刻度盘转动设置在所述支撑板上,所述无光刻度盘的转轴垂直无光刻度盘和支撑板所在平面。

在其中一个实施例中,还包括与支撑板连接的底座以及旋转机构,所述旋转机构包括固定在底座上的转轴,以及转动设置在转轴上的转接件,所述支撑板设有通孔,所述转接件在通孔处与所述无光刻度盘固定连接。

在其中一个实施例中,所述无光刻度盘与支撑板之间设置滚轮。

在其中一个实施例中,还包括固定在底座上的弹性定位件,所述转接件的周向侧壁设置与弹性定位件匹配的定位槽,所述定位槽与所述无光刻度盘上的刻度关联设置。

在其中一个实施例中,所述弹性定位件包括与底座连接的连接件和设置在连接件上的球头柱塞,所述球头柱塞的球头可弹性卡合在所述定位槽中。

在其中一个实施例中,所述球头柱塞的杆部与所述无光刻度盘的下表面接触。

在其中一个实施例中,所述无光刻度盘的刻度形成一个或多个刻度条,所述刻度条分别相对于无光刻度盘的直径重合设置;所述无光刻度盘还设有一个或多个坐标位,所述一个或多个坐标位设置在刻度条的延伸方向上。

上述手术灯光学参数测量装置通过光度计,以及遮光板在无光刻度盘上的位置调整,可同时测量手术灯的中心照度、光斑直径、光斑分布直径和无影率等参数。由于挡板的支撑结构均位于挡板下方,测量时不会影响到挡板上方及 挡板所在平面内的光束,使测量结果更加准确。承重座和连杆能实现挡板的直立放置,测量时只需移动承重座在无光刻度盘上的放置位置,即可模拟手术者的头局部地遮挡光束,使无影率测量时挡板放置更加方便快捷。遮光板和无光刻度盘两者能单独制作,使用时两者无需采用连接件连接,只需要将遮光板放置在无光刻度盘上即可,方便快捷,同时也便于携带外出测量。

进一步地,通过设置弹性定位件和旋转机构,可在光斑直径和光斑分布直径测量时通过转动无光刻度盘带动光度计定位至下一坐标位进行测量,避免需要多次移动光度计至不同坐标位进行测量这一繁杂操作。同时也能在无影率测量时通过转动无光刻度盘带动挡板定位至下一坐标位,避免需要多次移动挡板至不同坐标位进行测量这一繁杂操作,从而实现了光学参数测量的半自动化,提高了测量效率。

附图说明

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