[实用新型]天体方位与高度角测量实验仪有效
申请号: | 201720777579.1 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN207624217U | 公开(公告)日: | 2018-07-17 |
发明(设计)人: | 张锐波 | 申请(专利权)人: | 浙江大学城市学院 |
主分类号: | G09B23/00 | 分类号: | G09B23/00;G09B23/06 |
代理公司: | 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 | 代理人: | 张羽振 |
地址: | 310015*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 天体 测量 游标尺 方位角测量 支撑座 转动轴 望远镜 本实用新型 望远镜镜筒 测量实验 固定螺丝 高度角 盘转动 支撑架 支撑腿 主尺盘 中心转动轴 实验仪器 天体位置 中心转动 方位角 底盘 地平 固接 卡头 轮轴 主尺 | ||
本实用新型涉及一种天体方位与高度角测量实验仪,包括:支撑腿、支撑座、固定螺丝、天体方位角测量主尺盘、望远镜支撑架中心转动轴、天体方位角测量中心转动轮轴、测量天体高度主尺支撑架、望远镜镜筒转动轴、望远镜、测量天体高度游标尺盘转动轴、测量天体高度游标尺盘和测量天体高度主尺盘;在支撑座下方设置支撑腿;采用固定螺丝将支撑座固定在天体方位角测量游标尺底盘上,望远镜通过望远镜镜筒转动轴与测量天体高度游标尺盘转动轴组成的共同转动轴与测量天体高度游标尺盘通过测量天体高度游标尺盘卡头固接。本实用新型的有益效果是:在地平坐标系下,提供了一种测量天体位置(坐标),即测量天体方位角与高度的实验仪器。
技术领域
本实用新型专利涉及实验仪,尤其涉及一种天体方位与高度角测量实验仪。
背景技术
目前,在地平坐标系下,测量天体的准确位置(即天体高度与方位角)的测量,在基础天文学实验室与物理实验室中,仍然没有一种简易的便于学生实践操作的测量天体位置(坐标)实验仪器;传统的子午环绝对测定天体位置的方法及其不适用于低纬度地区的局限性,尤其不适合于学生实验、实习测量使用;发明设计的该实验仪,不仅仅可以用于在地平坐标系下天体位置(坐标)的测量,同时也可用于地面建筑物的高度与方位角测量,基于其显著的特点,不仅可用于天文学与物理学专业学生实验、实习使用,还适用于从事数学、建筑、测绘与计量等专业学习的学生实验、实习使用。
实用新型内容
本实用新型的目的是克服现有技术中的不足,提供了一种结构合理,适用广泛的天体方位与高度角测量实验仪。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的。这种天体方位与高度角测量实验仪,包括支撑腿、支撑座、固定螺丝、天体方位角测量主尺盘、望远镜支撑架中心转动轴、天体方位角测量中心转动轮轴、测量天体高度主尺支撑架、望远镜镜筒转动轴、望远镜、测量天体高度游标尺盘转动轴、测量天体高度游标尺盘和测量天体高度主尺盘;在支撑座下方设置支撑腿;采用固定螺丝将支撑座固定在天体方位角测量游标尺底盘上,望远镜通过望远镜镜筒转动轴与测量天体高度游标尺盘转动轴组成的共同转动轴与测量天体高度游标尺盘通过测量天体高度游标尺盘卡头固接,测量天体高度游标尺盘套嵌于测量天体高度主尺盘内可吻合旋转,测量天体高度游标尺盘转动轴螺穿过测量天体高度游标尺盘中部并活动连接测量天体高度主尺盘;望远镜通过望远镜镜筒转动轴转套在望远镜支撑架上端的望远镜支撑架转动轴套内,望远镜支撑架下端设置有望远镜支撑架中心转动轴,望远镜支撑架中心转动轴转套在天体方位角测量中心转动轮轴内,且望远镜支撑架中心转动轴转动就会带动望远镜支撑架及与其上安装的望远镜相连整体自由转动,天体方位角测量中心转动轮轴安装在天体方位角测量游标尺盘中心部位;测量天体高度主尺支撑架固定在天体方位角测量主尺盘向左适当延伸的平面上,测量天体高度主尺盘螺固在测量天体高度主尺支撑架上,望远镜支撑架转动轴套、天体方位角测量主尺盘及与其固接的测量天体高度主尺支撑架、测量天体高度主尺支撑架上固定的测量天体高度主尺盘、以及望远镜镜筒转动轴与测量高度游标尺盘转动轴组成的共同转动轴与测量天体高度游标尺盘的螺连整体,可以同步围绕望远镜支撑架中心转动轴在天体方位角测量中心转动轮轴中转动。
作为优选:所述支撑座下方平分360°圆周上设置三个支撑腿,在三个支撑腿中间分别设置有一个上下微调螺旋。
作为优选:测量天体高度主尺盘后部设置有测量天体高度主尺底盖,测量天体高度主尺底盖中央设置有一圆轴孔,测量高度游标尺盘转动轴螺穿过测量天体高度游标尺盘中部并通过测量天体高度主尺底盖的中央圆轴孔与测量天体高度游标尺盘卡头禁锢,且测量天体高度游标尺盘卡头可在测量天体高度主尺底盖中央设置的一圆轴孔内吻合无摩擦旋转。
本实用新型的有益效果是:
1、在地平坐标系下,提供了一种测量天体位置(坐标),即测量天体方位角与高度的实验仪器;
2、该实验仪不但可以测量天体坐标,亦可以用于测量地面建筑物的位置(坐标);
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