[实用新型]场均匀性校准支架

说明书

本实用新型涉及一种场均匀性校准支架，包括底座及垂直连接底座的Z轴支杆；底座包括X轴支杆，X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个支杆插槽位于同一直线上，若干个支杆插槽的开口方向平行于Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；Z轴支杆可拆卸地连接其中一个所述支杆插槽，所述Z轴支杆的一侧设有若干个探头连接槽，若干个所述探头连接槽位于同一直线上；若干个所述支杆插槽所在的直线垂直于若干个所述探头连接槽所在的直线。每测试一个测试点只需要将场强探头连接入对应的探头连接槽，或将Z轴支杆安插入对应的支杆插槽即可，定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，减少了测量的不确定性因素，提高了测试的可重复性，提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及电磁场抗扰度测试设备技术领域，特别是涉及场均匀性校准支架。

背景技术

辐射电磁场抗扰度测试的目的是为了评估电子电气产品在强辐射干扰环境下的是否能正常工作，测试之前会用一个场强探头放在被测物所在位置，进行辐射场强的强度校准，但由于被测物大小不一，为了让较大的被测物整个平面接收到的干扰强度一致，国际标准便定义了一个垂直于地面的1.5m×1.5m的均匀场区域，该均匀场区域包含16个测试点，16个测试点的排列方式为4(行)×4(列)，相邻的点间隔0.5m。校准时，将场强探头分别放置于16个测试点中的各个点进行校准，再对16个点的数据进行分析，从而得出该区域的均匀性是否符合标准要求，整个校准测试即为场均匀性校准。

为了让场强探头准确的放置在上面所述的16个测试点中的各个点，传统方法是利用一个固定的支架(一个底座+一个垂直支杆)，垂直支杆上套一个可以上下滑动的水平套筒，在定位时上下滑动水平套筒以固定探头的高度，在平移底座，用以固定探头的水平位置。将底座水平移动用以固定探头的水平位置时，容易因为人为的操作误差从而导致16个测试点不在同一垂直平面上；探头每更换一个位置时，都需要进行高度测量从而确保位置准确，在进行多次测试时，很难保证每次高度测量都完全一致没有。所以每次测试时都要调节、测量16次，从而确保探头处于设定的位置，这大大增加了测量的不确定性和误差，降低了测试的可重复性，且固定位置比较花时间，影响测试效率。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种场均匀性校准支架，其具有定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，提高了测试效率的特点。

一种场均匀性校准支架，包括底座及垂直连接底座的Z轴支杆；底座包括X轴支杆，X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个支杆插槽位于同一直线上，若干个支杆插槽的开口方向平行于Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；Z轴支杆可拆卸地连接其中一个支杆插槽，Z轴支杆的一侧设有若干个探头连接槽，若干个探头连接槽位于同一直线上；若干个支杆插槽所在的直线垂直于若干个探头连接槽所在的直线。

上述场均匀性校准支架，应用于放置场强探头以进行场均匀性校准，使用时，底座放置于水平地面或平台上，场强探头通过探头连接杆连接入其中一个探头连接槽，若干个支杆插槽所在的直线平行于电磁场抗扰度测试时的均匀场区域，Z轴支杆安插于其中一个支杆插槽内，相邻的支杆插槽之间的距离等于X轴方向的相邻的测试点之间的距离，则一个支杆插槽与一个探头连接槽的结合形成一个测试位置，对应均匀场16个点中的一个测试点；由于相邻的支杆插槽之间的距离及相邻的支杆插槽之间的距离与测试点的距离对应，所以只要将本实用新型场均匀性校准支架与均匀场区域对应放置好，并获得其中一个测试点的准确的测试位置，就可以确定其它测试点的测试位置，每测试一个测试点只需要将场强探头连接入对应的探头连接槽，或将Z轴支杆安插入对应的支杆插槽即可，无需每个测试点都测量距离然后滑动调节测试位置，定位准确，易于操作，减少了定位和测试的时间，减少了测量的不确定性因素，大大提高了测试的可重复性，提高了测试效率。

在其中一个实施例中，支杆插槽的数量为四个，探头连接槽的数量为四个。

在其中一个实施例中，四个支杆插槽中，相邻的支杆插槽之间的距离为50cm；四个探头连接槽中，相邻的探头连接槽之间的距离为50cm。