[实用新型]一种模组检测设备有效
| 申请号: | 201720741719.X | 申请日: | 2017-06-23 |
| 公开(公告)号: | CN207147755U | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
| 发明(设计)人: | 陈思正;令龙军;赖敬文;王锐;简培云 | 申请(专利权)人: | 深圳超多维科技有限公司 |
| 主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
| 代理公司: | 深圳市凯达知识产权事务所44256 | 代理人: | 刘大弯,沈荣彬 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 模组 检测 设备 | ||
技术领域
本实用新型属于检测技术领域.,尤其涉及模组检测设备。
背景技术
立体图像显示技术的成像原理是:基于观看者的双目视差,让观看者的左眼和右眼分别感知具有图像差异的视差图,观看者的大脑基于所感知的图像差异形成立体图像。
根据观看形式将立体显示分为眼镜式立体显示和裸眼式立体显示。其中,眼镜式立体显示装置需要观看者佩戴眼镜,才能观看到立体图像,在眼镜式立体显示装置的可视范围内,观看者的观看位置可以随意移动,都可以看到立体图像,然而,在观看眼镜式立体显示装置时,需要借助眼镜,增加观看者的观看负担,限制立体显示技术的发展,而观看者在观看裸眼式立体显示装置时,无需佩戴眼镜,即可观看到立体图像。
裸眼式立体显示装置包括光学模组和处理器,光学模组将处理器提供的立体图像进行分光显示,这样,观看者就无需佩戴眼镜等配件,就可以看到立体图像,因此,光学模组的显示质量将会影响观看者的观看体验,有必要在光学模组出厂前,对其显示质量进行检测评价。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种模组检测设备,旨在解决由现有技术的缺陷引起的一个或多个技术问题。
本实用新型实施例是这样实现的,一种模组检测设备,用于检测光学模组,所述模组检测设备包括机箱、反射镜面、模组检测治具和图像检测装置;
所述模组检测治具、所述图像检测装置分别安装于所述机箱上,所述机箱内设有检测空腔,所述反射镜面安装于所述检测空腔内;
所述光学模组能够可拆卸安装于所述模组检测治具内,当所述光学模组安装于所述模组检测治具内时,所述光学模组与所述反射镜面相对设置;
所述光学模组显示检测图像,所述检测图像经所述反射镜面反射形成虚像,所述图像检测装置采集所述虚像,并根据采集到的所述虚像确定所述光学模组的显示品质。
具体地,所述图像检测装置包括图像采集器件和与所述图像采集器件相连接的图像处理器件;
所述图像采集器件安装于所述机箱上,并与所述反射镜面相对设置;
所述图像处理器件与所述光学模组通信连接;
所述图像处理器件控制所述光学模组显示所述检测图像,所述图像采集器件采集所述虚像,所述图像处理器件接收所述图像采集器件采集的所述虚像,并根据所述虚像确定所述光学模组的显示品质。
进一步地,所述图像采集器件滑动安装于所述机箱上,以使所述图像采集器件在与所述反射镜面保持预定距离的条件下在不同位置采集多幅所述虚像。
进一步地,所述检测空腔内还设有传动装置,所述反射镜面安装于所述传动装置上,所述传动装置用于调节所述反射镜面与所述光学模组之间的距离。
具体地,所述模组检测治具包括承载基座和压合装置,所述承载基座设置于所述机箱上,所述压合装置设置于所述承载基座上;
所述承载基座用于放置所述光学模组,所述压合装置用于将所述光学模组的接口联入所述图像检测装置的检测线路;
当所述光学模组放置于所述承载基座上,所述压合装置的压合动作将所述接口联入所述检测线路以使所述光学模组与所述处理器通信连接。
进一步地,所述压合装置包括压盖,所述压盖上设有与所述接口相适配的连接器,所述连接器与所述检测线路相连接,所述压盖的一端与所述承载基座转动连接,当所述压盖的另一端向着所述承载基座靠拢压合时,所述连接器与所述接口卡合连接。
进一步地,所述模组检测治具还包括开关装置,所述开关装置设置于所述承载基座上并与所述检测线路相连接,用于控制所述检测线路的导通和断开,从而控制所述光学模组与所述处理器通信连接导通和断开。
进一步地,所述模组检测设备还包括品质提示部件,用于提示所确定的所述光学模组的显示品质级别。
优选地,所述图像采集器件为摄像头。
优选地,所述检测图像为条纹图像;
所述条纹图像的图像属性包括条纹斜率、条纹截距和条纹间距;
所述图像处理器件包括:显示控制模块、接收模块、第一获取模块和品质检测模块;显示控制模块,用于确定预设的排图参数并控制所述光学模组根据预设的排图参数显示所述检测图像;接收模块,用于接收所述图像采集器件采集到的所述虚像;第一获取模块,用于根据所述采集到的虚像和所述预设的排图参数获取所述光学模组的校正参数;其中,所述预设的排图参数包括排图倾角、排图周期和排图位移;
所述校正参数包括光栅倾角、光栅水平栅距和光栅位移。
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