[实用新型]一种测量装置、及测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种测量装置、及测量系统。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)具有机身轻薄、耗电低、无辐射、使用寿命长等优点而被广泛的应用。

现有技术中的LCD，液晶层的厚度对LCD的响应速度、对比度、可视角度有极大影响。本领域技术人员通过在阵列基板和对盒基板之间设置隔垫物来调整LCD内部液晶层的厚度。隔垫物的高度对液晶层的厚度有着直接的影响，因此，在针对隔垫物的研究分析中，高度是重要的测量参数之一。

目前，隔垫物高度的测量方法主要为光学法，其优点为测量精度高，但同时也存在着测量效率低、测量设备复杂等问题。尤其对于高分辨率显示产品，其内部隔垫物数量较多，以有限数量的隔垫物高度数据代表整体隔垫物高度变化趋势显然存在着明显的误差。这样一来，在分析LCD异常与隔垫物高度的相关性时，难以准确得到分析结果，导致分析LCD不良原因所需时间增长。

实用新型内容

本实用新型的实施例提供一种测量装置、及测量系统，可解决因取样量较少，而导致所得到的隔垫物高度变化趋势存在明显误差的问题。

为达到上述目的，本实用新型的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种测量装置，包括壳体、电源、设置在所述壳体内且与所述电源连接的导电检测部、与所述导电检测部正对的承载台、设置在所述承载台上且与所述电源连接的接线端子、以及控制所述导电检测部与所述承载台沿第一方向相对移动的升降机构；其中，所述承载台的承载面和所述导电检测部平行，所述第一方向为与所述承载面垂直的方向。

优选的，所述升降机构带动所述导电检测部沿第一方向移动。

优选的，所述升降机构设置在所述壳体中与所述承载台正对的内壁上，所述导电检测部设置在所述升降机构正对所述承载台一侧。

优选的，所述导电检测部包括基板、设置在所述基板表面的多个导电片，多个所述导电片以并联的方式与所述电源连接。

可选的，所述导电片为多边形，多边形顶点之间的最长连线为0.5～1mm。

可选的，所述导电片为圆形，圆形的直径为0.5～1mm。

优选的，多个所述导电片阵列排布。

优选的，所述导电片的厚度为0.001～1mm。

优选的，所述电源设置在所述壳体内部。

优选的，所述壳体为绝缘材料。

基于上述，优选的，所述壳体为矩形。

第二方面，提供一种测量系统，包括：第一方面所述的测量装置，以及设有隔垫物的显示用基板；其中，所述显示用基板放置于所述测量装置的承载面上，且所述显示用基板的上表面覆盖一层导电薄膜。

优选的，所述导电薄膜的厚度为0.001～1mm。

本实用新型实施例提供的测量装置、及测量系统，通过利用电容感应原理快速、准确的测量整个待测量显示基板上不同区域的隔垫物高度的平均值，解决了光学法测定隔垫物高度效率低下以及所测数据代表性较差的问题。通过本实用新型实施例提供的测量装置测定的隔垫物高度的分布情况，可准确地确认显示基板异常与隔垫物高度的相关性，从而缩短对显示基板不良的分析时间，提高良率提升的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的一种测量装置的结构示意图一；

图2为本实用新型实施例提供的一种测量装置的结构示意图二；

图3为本实用新型实施例提供的一种导电检测部的俯视示意图；

图4为本实用新型实施例提供的一种导电检测部的侧视示意图；

图5为本实用新型实施例提供的一种测量系统的结构示意图；

图6为本实用新型实施例提供的一种测量系统测量过程示意图。

附图标记

01-走线；10-壳体；20-电源；30-导电检测部；31-基板；32-导电片；40-承载台；41-承载面；50-接线端子；60-升降机构；70-显示用基板；100-副隔垫物顶部平面；200-主隔垫物顶部平面；300-显示用基板70上表面。

具体实施方式