[实用新型]合金分析仪用防沾污保护套

说明书

技术领域

本实用新型涉及合金分析仪检测设备，特别涉及一种合金分析仪用防沾污保护套。

背景技术

目前在役的核电厂，在机组检修期间，经常需要用合金分析在现场进行材质检测工作。对于涉核的设备，开展材质检测工作时，容易在合金分析仪表面沾污放射性物质。按照核电厂管理规定，对于沾污的设备，是不允许直接带出核相关厂房的，需要进行去污处理。如果合金分析仪在使用过程中沾污，将根据沾污的严重情况去污。而去污的过程有可能会对合金分析仪仪器本身造成损坏，或者根本无法去污。核电厂现场使用的合金分析仪，价格通常在30万元左右，如果在使用过程中沾污放射性元素，去污过程中对合金分析仪造成损坏，这样的损失过于严重。

在现有的使用中，对于可能发生沾污的情况，要么不进行检测，或者，在合金分析仪检测探头表面包裹一层塑料布。而包裹塑料布会影响合金分析仪的操作，甚至影响设备的准确度，得到错误的检测结果。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种能有效防止分析仪受到放射性物质的污染且拆换方便成本较低的合金分析仪用防沾污保护套。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种合金分析仪用防沾污保护套，它包括套本体，所述套本体上下两端面为敞口端面，一端为分析仪套入的入口，另一端为探测口，它还包括固定于所述套本体上探测口一侧的端面上的安装片以及安装于所述安装片上的防污薄膜，所述安装片中部镂空，所述防污薄膜密封盖设于所述中部镂空上，且其采用低密度聚乙烯制成。

优化的，所述安装片包括与所述套本体相固定连接的主片以及与所述主片相拼接的副片，所述防污薄膜设于所述主片与所述副片之间。

进一步地，所述主片上设有多个凸起的卡扣，所述副片上设有与所述卡扣一一对应的卡扣插孔。

更进一步地，所述主片和所述副片上设有相配合的密封圈和密封槽，所述密封圈将部分防污薄膜压入密封槽内。

再进一步地，所述卡扣均匀分布于所述密封圈周围。

优化的，所述安装片采用透明柔性塑料制成。

优化的，所述套本体的入口一侧端部的内壁上环设有用于密封的密封环。

由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：本实用新型合金分析仪用防沾污保护装置，密封效果好，可以有效的避免合金分析仪本体沾污到放射性物质，一旦分析仪枪头处沾污，只需将安装片、防污薄膜撕下即可；同时，本装置兼具防水、防尘的作用，检测头上的薄膜窗口采用与合金分析仪自带的薄膜窗口相同的材料，不会对检测结果造成影响。

附图说明

附图1为套本体与主片的结构示意图；

附图2为附图1的左视图；

附图3为副片的结构示意图；

附图4为防污薄膜的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图所示的实施例对本实用新型作进一步描述。

如图1、2、3、4所示，合金分析仪用防沾污保护套包括套本体1，所述套本体1上下两端面为敞口端面，一端为分析仪套入的入口，另一端为探测口，它还包括固定于所述套本体1上探测口一侧的端面上的安装片以及安装于所述安装片上的防污薄膜4，所述安装片采用透明柔性塑料制成，所述安装片中部镂空，所述防污薄膜4密封盖设于所述中部镂空上，且其采用低密度聚乙烯制成。

所述安装片包括与所述套本体1相固定连接的主片2以及与所述主片2相拼接的副片3，所述防污薄膜4设于所述主片2与所述副片3之间。所述主片2上设有多个凸起的卡扣7，所述副片3上设有与所述卡扣7一一对应的卡扣插孔8，所述防污薄膜4上也设有与所述卡扣7一一对应的卡扣穿孔9。所述主片2和所述副片3上设有相配合且呈方形的密封圈5和密封槽6，所述密封圈5将部分防污薄膜4压入密封槽6内，提高密封效果。所述卡扣7均匀分布于所述密封圈5周围。

所述套本体1的入口一侧端部的内壁上环设有用于密封的密封环。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。