[实用新型]一种新型控制和侦测SD卡lock/unlock的电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及存储产品设计技术领域，具体涉及一种新型控制和侦测SD卡lock/unlock的电路。

背景技术

SD卡（Secure Digital Memory Card）是一种基于半导体快闪记忆器的新一代记忆设备，大小犹如一张邮票的SD记忆卡，重量只有2克，但却拥有高记忆容量、快速数据传输率、极大的移动灵活性以及很好的安全性。普遍用于相机，笔记本,工控设备和服务器上。但是我们在使用SD卡的时候，我们会遇到这样的问题，当系统将SD卡设置为unlock后（此时lock还是unlock受SD卡本身lock开关控制），在工厂产线测试人员测试SD卡时，BIOS无法侦测SD卡有没有lock,如果测试人员把SD卡lock住，用相关tool测试时不能写信息到此卡，测试会报错，引起测试人员不必要的麻烦。同时，当系统将SD卡设置为unlock而用户lock SD卡,用户无法写数据到SD卡，引起用户不必要的麻烦。

如图1所示，当系统需要对SD卡写保护时，把PCH GPIO0拉低，Q1不导通，SD controller U2的WP pin脚被拉高电平，高电平时SD卡写保护，只能读。

当PCH GPIO0拉高时，Q1导通，SD controller U2的WP pin脚受CONN1的WP_switch控制，当SD卡人为被设置lock时，此pin脚悬空，SD controller U2的WP pin脚高电平，SD卡写保护，只能读；当SD卡人为被设置unlock时，此pin脚接地，SD controller U2的WP pin脚低电平，SD卡既能读也能写。

但是一旦系统在BIOS下设置SD卡为unlock时（GPIO0高电平），BIOS下就无法知道SD卡是用户自己设置的unlock还是lock。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：本实用新型针对以上问题，提供一种新型控制和侦测SD卡lock/unlock的电路，通过线路改进后，产线测试时会方便侦测SD卡有没有lock，如果lock住提示测试人员此卡unlock住，从而缩短产品研发测试周期。同时在电脑开机时提醒用户SD卡写保护了。

本实用新型所采用的技术方案为：

一种新型控制和侦测SD卡lock/unlock的电路，所述电路结构包括PCH芯片、三极管、controller芯片、CONN芯片，其中，三极管的G、S、D端分别连接高电平，PCH芯片的GPIO0端连接至三极管的G端，三极管的D端连接至controller芯片的WP端，三极管的S端连接至CONN芯片的WP_switch端，同时也连接至PCH芯片的GPIO1端。

所述PCH芯片的GPIO0信号控制三极管的导通：

1）GPIO0拉低时，三极管不导通，controller芯片的WP pin脚被拉高为高电平，SD卡写保护，只能读；

2）当PCH芯片的GPIO0拉高为高电平时，三极管导通，controller芯片的WP pin脚受CONN芯片的WP_switch控制：

a、当SD卡被设置为lock时，CONN芯片CONN1的WP_switch pin脚悬空，controller芯片的WP pin脚高电平，SD卡写保护，只能读；PCH芯片的GPIO1端侦测到高电平，BIOS中设置为SD卡lock；

b、当SD卡被设置为unlock时， CONN芯片的WP_switch pin脚接地，controller芯片的WP pin脚低电平，SD卡既能读也能写；PCH芯片的GPIO1端侦测到低电平，BIOS中设置为SD卡unlock。

所述三极管为2N7002电源控制芯片。

所述三极管2N7002电源控制芯片的G、S、D端分别通过一个10K电阻串联到电源+3P3V端。

PCH：Platform Controller Hub，集成南桥；

2n7002芯片:一种电源控制芯片，晶体管极性:N沟道。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型采用改善SD卡写保护线路，实现系统对SD卡写保护时，能通过BIOS PCH GPI01去侦测SD卡有没有lock住，如果lock住提示测试工作人员拔下SD卡unlock此卡，再进行SD卡写测试。通过改进后的线路设计，使得工厂产线测试方便，减少了因操作不当导致的debug时间，缩短了研发测试周期，同时还能系统开机界面时提醒用户SD卡lock住，需要做相应解锁才能使用，提高用户体验度。

附图说明