[实用新型]一种高中理科物理实验用螺旋测微器

说明书

技术领域

本实用新型涉及高中物理实验用具技术领域，尤其涉及一种高中理科物理实验用螺旋测微器。

背景技术

螺旋测微器又称千分尺（micrometer）、螺旋测微仪、分厘卡，是比游标卡尺更精密的测量长度的工具，用它测长度可以准确到0.01mm，测量范围为几个厘米,它的一部分加工成螺距为0.5mm的螺纹，当它在固定套管的螺套中转动时，将前进或后退，活动套管和螺杆连成一体，其周边等分成50个分格,螺杆转动的整圈数由固定套管上间隔0.5mm的刻线去测量，不足一圈的部分由活动套管周边的刻线去测量，最终测量结果需要估读一位小数。

然而现有的高中理科物理实验用螺旋测微器在使用过程中存在着一些不足之处，刻度表盘较小读数十分的方便，易出错，其次没有很好的握取结构，一般都是通过尺架握取，尺架内又要固定待测物，导致握取十分的不方便，再有通过固定测砧和测微螺杆夹取待测物进行测量，易待测为一般为圆柱形，夹持的稳定性较低。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种高中理科物理实验用螺旋测微器。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种高中理科物理实验用螺旋测微器，包括尺架，所述尺架的一端内壁上固定有固定测砧，所述尺架内表壁中心处通过支架与固定板固定连接，且固定板上表面开设有锯齿槽，所述尺架一侧外表壁上焊接有握杆，所述尺架一端套接有测微螺杆，所述尺架一端前表面设置有固定测微螺杆用的止动旋钮，所述尺架一端固定有支杆，且支杆通过旋转轴与连接杆固定连接，且连接杆的一端固定有放大镜，所述测微螺杆上套接有固定刻度尺，且固定刻度尺一侧设置有转动刻度盘，所述转动刻度盘一侧设置有粗调旋钮，且粗调旋钮一侧设置有微调旋钮。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述尺架为U型结构。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述固定测砧与测微螺杆处于同一水平线上。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述固定板与测微螺杆相互平行。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述握杆与测微螺杆相互平行。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述握杆上设置有防滑橡胶垫。

本实用新型中，首先尺架上通过支架连接有固定板，可以将待测物置于固定板进行测量，使得该螺旋测微器操作更加的方便，固定板上设置有锯齿槽，提高了放置待测物的稳定性，也提高了固定测砧与测微螺杆夹持待测物的稳定性，其次尺架的一端通过旋转轴转动连接了一个放大器，使用该螺旋测微器时，可以旋转放大镜到刻度尺上，进行读数，使得读数要更加的方便、精确，再有尺架上焊接有握杆，可以通过握杆拿取该螺旋测微器，使得拿取时不易碰触的微调旋钮和粗调旋钮，使得测量时产生误差，进一步提高了使用该螺旋测微器的方便性和准确性。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种高中理科物理实验用螺旋测微器的结构示意图；

图2为本实用新型固定板的结构示意图。

图例说明：

1-固定测砧、2-尺架、3-支架、4-握杆、5-测微螺杆、6-止动旋钮、7-支杆、8-旋转轴、9-连接杆、10-放大镜、11-固定刻度尺、12-转动刻度盘、13-粗调旋钮、14-微调旋钮、15-固定板、16-锯齿槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

参照图1-2，一种高中理科物理实验用螺旋测微器，包括尺架2，尺架2的一端内壁上固定有固定测砧1，尺架2内表壁中心处通过支架3与固定板15固定连接，且固定板15上表面开设有锯齿槽16，尺架2一侧外表壁上焊接有握杆4，尺架2一端套接有测微螺杆5，尺架2一端前表面设置有固定测微螺杆5用的止动旋钮6，尺架2一端固定有支杆7，且支杆7通过旋转轴8与连接杆9固定连接，且连接杆9的一端固定有放大镜10，测微螺杆5上套接有固定刻度尺11，且固定刻度尺11一侧设置有转动刻度盘12，转动刻度盘12一侧设置有粗调旋钮13，且粗调旋钮13一侧设置有微调旋钮14。

尺架2为U型结构，固定测砧1与测微螺杆5处于同一水平线上，固定板15与测微螺杆5相互平行，握杆4与测微螺杆5相互平行，握杆4上设置有防滑橡胶垫。