[实用新型]一种新型半导体激光器有效
申请号: | 201720677722.X | 申请日: | 2017-06-12 |
公开(公告)号: | CN206864864U | 公开(公告)日: | 2018-01-09 |
发明(设计)人: | 王昱玺;刘拓;陈发涛;潘彦廷;王志强;冯旭超;陈怡婷;马梦婕;孙娟娟 | 申请(专利权)人: | 陕西源杰半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01S5/028 | 分类号: | H01S5/028 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 712000 陕西省西安市西咸新区沣西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 半导体激光器 | ||
1.一种新型半导体激光器,其特征在于,包括激光器本体(1)以及分别镀覆在激光器本体(1)两端高反射膜(3)和减反射膜(2),高反射膜(3)和减反射膜(2)与激光器本体(1)之间还设置有一层镀覆在激光器端面的密封膜(4)。
2.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器,其特征在于,减反射膜(2)包括从内到外依次镀覆的第一氧化铝膜层、硅膜层和第二氧化铝膜层,其中厚度分别为:16nm、35nm和70nm;高反射膜(3)包括从内到外依次镀覆的第一氧化铝膜层、硅膜层、第二氧化铝膜层、硅膜层和第三氧化铝膜层,其中厚度分别为:230nm、100nm、230nm、100nm和30nm。
3.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器,其特征在于,减反射膜(2)包括从内到外依次镀覆的第一氧化钽膜层、硅膜层和第二氧化钽膜层,其中厚度分别为:20nm、38nm和45nm;高反射膜(3)包括从内到外依次镀覆的第一氧化钽膜层、硅膜层、第二氧化钽膜层、硅膜层和第三氧化钽膜层,其中厚度分别为:130nm、100nm、130nm、100nm和60nm。
4.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器,其特征在于,密封膜(4)的厚度为5nm。
5.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器,其特征在于,两层密封膜(4)的厚度相等。
6.根据权利要求1所述的一种新型半导体激光器,其特征在于,密封膜(4)为铝膜层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西源杰半导体技术有限公司,未经陕西源杰半导体技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201720677722.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:超连续谱激光产生装置及系统
- 下一篇:一种双波长可调谐激光器及其系统