[实用新型]一种测量结晶性聚合物熔点的设备

说明书

技术领域

本实用新型属于结晶性高分子材料测量技术领域，具体涉及一种测量结晶性聚合物熔点的设备。

背景技术

结晶性高分子材料(如HDPE,POM,PA66等)都具有各自固定的熔点(Tm)，表示结晶性高分子材料在连续高温加热下，从固态向液态转变的一个临界温度值。熔点(Tm)是结晶性高分子材料的一个极其重要的参数，通过它，不仅可以大致了解到此类高分子材料的微观结构和外在的力学性能(一般而言，高分子材料的熔点(Tm)越高，表示其分子结构中的结晶程度越高，相应地，其外在的各项力学性能指标如强度，刚性，硬度等也会越高)，而且可以通过所测定的熔点(Tm)值对于材料的种类进行一个大致的分析和推断，更为重要的是，高分子材料的熔点(Tm)是其在应用状态下----如注塑成型时一个必不可少的参考数据，只有通过它，才能迅速确定此类材料的最优成型条件，最大程度地实现材料的优良性能。

现有测试结晶性高分子材料的熔点(Tm)的主要方法是差示扫描量热法，以差示扫描量热仪(DSC)测量结晶性聚合物熔点(Tm)存在至少两大致命缺陷，首先是价格昂贵，每台DSC设备动辄RMB一百万以上，其次是测试结果不够准确，还需要使用其他测试手段来对其进行交叉论证。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测量结晶性聚合物熔点的设备，以解决上述背景技术中提出的价格昂贵，每台DSC设备动辄RMB一百万以上，其次是测试结果不够准确，还需要使用其他测试手段来对其进行交叉论证的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测量结晶性聚合物熔点的设备，包括测试机外壳，所述测试机外壳一侧通过铰链固定连接有箱门，且测试机外壳内部靠近箱门的一侧位置处通过红外线灯固定架固定连接有红外线灯，所述测试机外壳底部通过支架固定连接有托盘，所述托盘的上方设置有加热器，所述加热器的内部设置有温度传感器，所述测试机外壳内部靠近托盘的上方位置处设置有红外数码相机，所述红外数码相机的一侧设置有CCD图像传感器，所述CCD图像传感器的一侧设置有AD转换器，所述测试机外壳上远离箱门的一侧位置处设置有USB接口，所述USB接口的下方设置有外接电源插口，所述测试机外壳通过连接线连接有电控箱，所述电控箱的一侧设置有液晶显示器，所述液晶显示器的下方设置有开关面板，所述电控箱内部靠近开关面板的下方设置有计时器，所述计时器的一侧设置有热电偶温度调节控制器，所述热电偶温度调节控制器的一侧设置有主控制器，所述温度传感器和加热器均与热电偶温度调节控制器电性连接，所述红外数码相机、CCD图像传感器、AD转换器、液晶显示器、计时器、加热器和红外线灯均与主控制器电性连接。

优选的，所述热电偶温度调节控制器的型号为GTC601。

优选的，所述主控制器的型号为AT89S52。

优选的，所述红外线灯的红外线波长为800nm。

优选的，所述红外数码相机上设置有USB接口。

优选的，所述红外数码相机与测试机外壳内壁通过支架固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型结构科学合理，使用安全方便，摒弃传统的热分析法，采用光分析法，通过记录所测样本在持续加热状态下的荧光图像，然后以一种CCD图像传感器将此光信号转换成电信号输出，通过计算机绘制出荧光图像的灰度值与温度的关系曲线，并对其进行处理而得到所测样品材料的熔点(Tm)，本实用新型力克DSC的两大致命缺陷，制造成本将至少降低50％，测试精度也将大幅度提高，不需要再进行任何辅助测试，一经推出，将全方位取代DSC，迅速占领国内外市场，市场规模庞大。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的电路框图；

图3为本实用新型的第二种实施例的结构示意图；

图4为本实用新型的第二种实施例的电路框图；

图中：1-箱门、2-红外线灯固定架、3-测试机外壳、4-红外数码相机、5-CCD图像传感器、6-AD转换器、7-温度传感器、8-USB接口、9-外接电源插口、10-电控箱、11-液晶显示器、12-主控制器、13-热电偶温度调节控制器、14-计时器、15-开关面板、16-连接线、17-托盘、18-加热器、19-红外线灯。

具体实施方式