[实用新型]测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针及测试电路

权利要求书

1.一种测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：包括放电极(1)、陶瓷管(2)和地极(3)，所述放电极(1)与地极(3)均由导电材料制造而成，所述陶瓷管(2)由绝缘陶瓷材料制造而成，所述放电极(1)外部紧密包裹有陶瓷管(2)，所述陶瓷管(2)外部紧密包裹有地极(3)；所述放电极(1)具有检测端A和连接端A，所述地极(3)具有检测端B和连接端B，所述陶瓷管(2)靠近放电极(1)检测端A的一端端部为检测端C，所述陶瓷管(2)远离放电极(1)检测端A的另一端端部为连接端C；所述放电极(1)的连接端A电连接有第一连接电缆(4)，所述地极(3)的连接端B电连接有第二连接电缆(5)，所述放电极(1)的检测端A、地极(3)的检测端B、陶瓷管(2)的检测端C三者相对应设置。

2.按照权利要求1所述的测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：所述放电极(1)的检测端A、地极(3)的检测端B、陶瓷管(2)的检测端C三者端面平齐；所述放电极(1)为漆包线，所述地极(3)为铜管。

3.按照权利要求1所述的测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：所述陶瓷管(2)的长度大于放电极(1)的长度；所述陶瓷管(2)的长度大于地极(3)的长度。

4.按照权利要求1所述的测量金属表面微喷射物质的同轴双极式电探针，其特征在于：所述放电极(1)、陶瓷管(2)、地极(3)均呈圆柱体形状。

5.一种由权利要求1～4任一项所述的同轴双极式电探针所构成的测试电路，其特征在于：包括同轴双极式电探针和信号形成电路(6)，所述第一连接电缆(4)、第二连接电缆(5)分别通过导线与信号形成电路(6)电连接，所述第二连接电缆(5)还通过导线接地；所述信号形成电路(6)包括电压源(E)、第一电阻(R_E)、第二电阻(R_p)、第一电容(C₁)、第二电容(C₂)、第三电阻(R_s)，所述第一电阻(R_E)的一端与电压源(E)连接，所述第二电阻(R_p)的一端分别与第一连接电缆(4)连接，所述第二电阻(R_p)的另一端、第一电容(C₁)的一端、第二电容(C₂)的一端与第一电阻(R_E)的另一端连接，所述第一电容(C₁)的另一端、第二电容(C₂)的另一端与第三电阻(R_s)的一端连接，所述第三电阻(R_s)的另一端接地，所述第三电阻(R_s)的另一端还与第二连接电缆(5)电连接。

6.按照权利要求5所述的测试电路，其特征在于：所述第一电容(C₁)的电容值大于第二电容(C₂)的电容值。

7.按照权利要求6所述的测试电路，其特征在于：所述第一电容(C₁)的电容值C按照下式进行计算：

上式中，T_恒压为预设的第一电容(C₁)的恒压时间，R_RP为第二电阻(R_p)的阻值，R_RS为第三电阻(R_s)的阻值，R_RX为被测物质(R_X)的阻值，ΔV_C1/V_C1始为恒压时间内的第一电容(C₁)的电压变化需求值，其中ΔV_C1为恒压时间内第一电容(C₁)电压的变化值，V_C1始为恒压时间内第一电容(C₁)电压的初始值。

8.按照权利要求7所述的测试电路，其特征在于：恒压时间内的第一电容(C₁)的电压变化需求值小于等于1％。

9.按照权利要求5所述的测试电路，其特征在于：所述第二电阻(R_p)的阻值和第三电阻(R_s)的阻值均为50Ω。