[实用新型]底线检测装置及缝纫机

说明书

技术领域

本实用新型属于缝纫机部件技术领域，涉及一种底线检测装置、底线检测方法及缝纫机。

背景技术

中国实用新型专利(授权公告号：CN203904645U，授权公告日：20141029)公开了一种缝纫机底线线量检测装置，缝纫机包括底板、安装在底板内的旋梭、以及用于控制电机的电控模块，旋梭包括梭壳和收容在梭壳中的梭芯，梭芯包括绕线柱和设置绕线柱两端的凸缘，两个凸缘中，至少有一个凸缘的外表面上设有第一表面部和第二表面部，梭壳的外壁上开设有一透光孔，第一表面部或第二表面部从该透光孔处露出；还包括一固定在底板内的传感器，该传感器包括用于发射光线的发射器和用于接收光线的接收器，传感器的接收器和发射器均正对从透光孔处露出的第一表面部或第二表面部，第一表面部和第二表面部的反射光线能力不同；传感器与一信号处理模块相连接，该信号处理模块又与电控模块相连接。该第一表面部的材料为吸光性材料，第二表面部的材料为反光性材料。

当梭芯上粘有油污或线头的时候，会对检测装置造成干扰，造成信号读取错误，其结构不稳定。

实用新型内容

本实用新型根据上述问题，提出了一种结构稳定的底线检测装置，其技术方案如下：

底线检测装置，包括梭壳和位于梭壳内的梭芯，所述的梭芯包括绕线柱和位于绕线柱两端的凸缘，其特征在于，所述的梭壳上具有检测口一和检测口二，所述的凸缘上具有均可转动至检测口一和检测口二的检测部一和检测部二；底线检测装置还包括用于正对检测口一设置的发射器一和接收器一，还包括用于正对检测口二设置的发射器二和接收器二。

当检测部一和检测部二依次经过检测口一时，发射器一发射信号至检测口一处，接收器一收到了信号变化。但梭芯的凸缘有可能被污染或其它因素影响，以至于接收器一收到了多个信号变化值，此时，底线检测装置中若只有一个接收器，在一个实施例中，那么接收器将会误判梭芯转动多圈。但在本底线检测装置中，由于在检测口二处设置了发射器二和接收器二，当检测部一和检测部二依次经过检测口二处时，发射器二发射信号至检测口二处，接收器二收到了信号变化，只有在接收器一收到了信号变化，并且接着接收器二收到了信号变化，底线检测装置才判断梭芯转动了一圈。因此，即使接收器一和接收器二在梭芯只转动一圈的过程中均收到了多个信号变化值，也不影响底线检测装置的检测结果，从而使得本底线检测装置的结构较为稳定。

在上述的底线检测装置中，所述的发射器一和发射器二为红外发射器；所述的接收器一和接收器二为红外接收器；或者，所述的发射器一和发射器二为激光发射器；所述的接收器一和接收器二为激光接收器；

所述的检测部一和检测部二为下列技术方案中的一种：

一、检测部一为亮面，检测部二为不反光表面；

二、检测部一为斜面，检测部二为平面；

三、检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为亮面；检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口，另一侧凸缘的内侧面为不反光表面；

四、检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为不反光表面，检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口，另一侧凸缘的内侧面为亮面。

在方案一种，检测部一为亮面，当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时，检测部一将光信号反射至接收器一或接收器二上；检测部二为不反光表面，当发射器一或发射器二发射光信号至检测部二上时，检测部二将光信号吸收。

在方案二中，检测部一为斜面，当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时，检测部一将光信号偏角度反射，使得接收器一或接收器二接收不到反射的光信号；检测部二为平面，当发射器一或发射器二发射光信号至检测部二上时，检测部二将光信号反射，接收器一或接收器二接收到反射的光信号。

在方案三种，检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为亮面，当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时，检测部一将光信号反射至接收器一或接收器二上；检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口，另一侧凸缘的内侧面为不反光表面，当发射器一或发射器二发射光信号，光信号穿过检测部二并到达另一侧凸缘的内侧面或到达梭芯上的线，光信号被吸收；

在方案四种，检测部一为凸缘的外侧面且凸缘的外侧面为不反光表面，当发射器一或发射器二发射光信号至检测部一上时，检测部一将光信号吸收；检测部二为凸缘上的通孔或凸缘边缘处的缺口，另一侧凸缘的内侧面为亮面，当发射器一或发射器二发射光信号，光信号穿过检测部二并到达另一侧凸缘的内侧面或到达梭芯上的具有反光性能的线，接收器一或接收器二接收到反射的光信号。